LEPTOSKOP 2042 涂層測厚儀是德國卡爾德意志公司的創(chuàng)立者KARL DEUTSCH先生進(jìn)行開拓性工作的結(jié)晶。自從1950年推出的一臺LEPTOSKOP及隨后的研發(fā)工作，才有了目前的LEPTOSKOP 系列。 KARL DEUTSCH LEPTOSKOP 利用磁感應(yīng)的方法確定鐵磁基體上的非鐵磁層的厚度。另外 LEPTOSKOP 可以利用渦流法測量非鐵磁材料上覆蓋的非導(dǎo)電層厚度。

詳細(xì)介紹

LEPTOSKOP 2042 涂層測厚儀是德國卡爾德意志公司（ KARL DEUTSCH ）的創(chuàng)立者KARL DEUTSCH先生進(jìn)行開拓性工作的結(jié)晶。
簡介
多功能的儀器的準(zhǔn)確測量技術(shù)，操作簡便。該方案通過一個快速解鎖代碼表示現(xiàn)場升級包括在內(nèi)。該LEPTOSKOP 2042用于測量非磁性基片上磁性涂層（根據(jù)獲得DIN EN ISO 2178的厚度），并測量電非導(dǎo)電非磁性涂層的導(dǎo)電基板的厚度渦流方法手段（據(jù)了DIN EN ISO 2360 ）。在同一個舒適的工具的組合就像一個模擬指針顯示為一個類似Windows檔案管理和自由選擇10種不同語言的厚度值的可靠技術(shù)，滿足了一項(xiàng)雄心勃勃的用戶的所有愿望。該LEPTOSKOP 2042年，是一個帶有電池壽命100小時以上的時間，經(jīng)濟(jì)手段。該儀器記錄的操作時間和數(shù)量的測量，所以這些重要的參數(shù)是正確的測試設(shè)備可追查本身。彩色橡膠保護(hù)皮套包括在供貨范圍和保護(hù)與滑帶額外的保護(hù)功能，在工業(yè)環(huán)境中的工具。

特點(diǎn)
·大型圖形顯示48毫米× 24毫米
·校準(zhǔn)選項(xiàng)
出廠校準(zhǔn)，即刻準(zhǔn)備測量
標(biāo)定未知涂層*
零點(diǎn)校準(zhǔn)*
一，多箔校準(zhǔn)基底上無涂層*
標(biāo)定涂層材料*
校準(zhǔn)數(shù)據(jù)可以存儲在單獨(dú)的單獨(dú)校準(zhǔn)文件，可以重新從那里加載
·佳顯示模式可選適應(yīng)的測量任務(wù)*
·輸入和限額監(jiān)測*
·與存儲的數(shù)據(jù)容易檔案管理，在Windows（三）
·實(shí)用的電腦軟件 STATWIN 2002 和 EasyExport
·統(tǒng)計(jì)數(shù)字*
·統(tǒng)計(jì)評價多 999讀數(shù)
·小值，大值，平均值，讀數(shù)，標(biāo)準(zhǔn)差數(shù)，限制監(jiān)控
·當(dāng)?shù)仄骄穸群屯繉雍穸龋ㄍㄟ^DIN EN ISO 2808 ）
·在線統(tǒng)計(jì)，在所有統(tǒng)計(jì)值一覽

技術(shù)參數(shù)

串行接口進(jìn)行數(shù)據(jù)傳輸?shù)絉S232或USB
電源，可通過電池，充電電池， USB或電源單元
測量范圍：	0 – 20000um（取決于探頭）
測量速度：	高達(dá)每秒2讀數(shù)
存儲：	高。在9999*140文件讀數(shù)
測量不確定度：
涂層厚度< 100um：1 ％的讀數(shù)+ / - 1um校準(zhǔn)后
涂層厚度> 100um： 1 .. 3讀數(shù)+ / - 1um％
涂層厚度> 1000um： 3 .. 5讀數(shù)+ / - 10um％
涂層厚度> 10000um：5閱讀+ / - 100um％

普通型

鐵基膜層測厚儀標(biāo)準(zhǔn)套

2042F

非鐵基膜層測厚儀標(biāo)準(zhǔn)套

2042NF

鐵基/非鐵基膜層測厚儀標(biāo)準(zhǔn)套

2042

數(shù)據(jù)型

鐵基

2042 Fe set EasyExport----軟件適用于Windows XP/2000包括：膜層測厚儀，統(tǒng)計(jì)模塊，試塊，校正薄膜，附加PC電纜和 EasyExport軟件，操作手冊，質(zhì)量認(rèn)證書，儀器箱

2042 EF

2042 Fe Data Set ----軟件適用于Windows 9X/XP/ME/2000NT4.0包括：膜層測厚儀，統(tǒng)計(jì)和資料模塊，試塊，校正薄膜，附加PC電纜和 STATWIN 2002軟件，操作手冊，質(zhì)量認(rèn)證書，儀器箱

2042DF

非鐵基

2042 NFe set EasyExport----軟件適用于Windows XP/2000包括：膜層測厚儀，統(tǒng)計(jì)模塊，試塊，校正薄膜，附加PC電纜和 EasyExport軟件，操作手冊，質(zhì)量認(rèn)證書，儀器箱

2042ENF

2042 NFe Data Set ----軟件適用于Windows 9X/XP/ME/2000NT4.0包括：膜層測厚儀，統(tǒng)計(jì)和資料模塊，試塊，校正薄膜，附加PC電纜和 STATWIN 2002軟件，操作手冊，質(zhì)量認(rèn)證書，儀器箱

2042DNF

鐵基/非鐵基

2042 Fe/NFe Set EasyExport----軟件適用于Windows XP/2000包括：膜層測厚儀，統(tǒng)計(jì)模塊，試塊，校正薄膜，附加PC電纜和 EasyExport軟件，操作手冊，質(zhì)量認(rèn)證書，儀器箱

2042 E

2042 Fe/NFe Data Set----軟件適用于Windows 9X/XP/ME/2000NT4.0包括：膜層測厚儀，統(tǒng)計(jì)和資料模塊，試塊，校正薄膜，附加PC電纜和 STATWIN 2002軟件，操作手冊，質(zhì)量認(rèn)證書，儀器箱

2042 D

附件：

試塊和膜片

探頭定位裝置　(適用于微型探頭)

定位輔助裝置 (適用于微型探頭)

電腦軟件 STATWIN 2002 用于數(shù)據(jù)傳輸和對整個目錄結(jié)構(gòu)的便捷管理

電腦軟件 EasyExport 用于把單獨(dú)的杜說或全部文件傳輸?shù)絎indows 程序里

關(guān)鍵詞：涂層測厚儀電池測厚儀

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普通型		鐵基膜層測厚儀標(biāo)準(zhǔn)套	2042F
		非鐵基膜層測厚儀標(biāo)準(zhǔn)套	2042NF
		鐵基/非鐵基膜層測厚儀標(biāo)準(zhǔn)套	2042
數(shù)據(jù)型	鐵基	2042 Fe set EasyExport----軟件適用于Windows XP/2000包括：膜層測厚儀，統(tǒng)計(jì)模塊，試塊，校正薄膜，附加PC電纜和 EasyExport軟件，操作手冊，質(zhì)量認(rèn)證書，儀器箱	2042 EF
	鐵基	2042 Fe Data Set ----軟件適用于Windows 9X/XP/ME/2000NT4.0包括：膜層測厚儀，統(tǒng)計(jì)和資料模塊，試塊，校正薄膜，附加PC電纜和 STATWIN 2002軟件，操作手冊，質(zhì)量認(rèn)證書，儀器箱	2042DF
	非鐵基	2042 NFe set EasyExport----軟件適用于Windows XP/2000包括：膜層測厚儀，統(tǒng)計(jì)模塊，試塊，校正薄膜，附加PC電纜和 EasyExport軟件，操作手冊，質(zhì)量認(rèn)證書，儀器箱	2042ENF
	非鐵基	2042 NFe Data Set ----軟件適用于Windows 9X/XP/ME/2000NT4.0包括：膜層測厚儀，統(tǒng)計(jì)和資料模塊，試塊，校正薄膜，附加PC電纜和 STATWIN 2002軟件，操作手冊，質(zhì)量認(rèn)證書，儀器箱	2042DNF
	鐵基/非鐵基	2042 Fe/NFe Set EasyExport----軟件適用于Windows XP/2000包括：膜層測厚儀，統(tǒng)計(jì)模塊，試塊，校正薄膜，附加PC電纜和 EasyExport軟件，操作手冊，質(zhì)量認(rèn)證書，儀器箱	2042 E
	鐵基/非鐵基	2042 Fe/NFe Data Set----軟件適用于Windows 9X/XP/ME/2000NT4.0包括：膜層測厚儀，統(tǒng)計(jì)和資料模塊，試塊，校正薄膜，附加PC電纜和 STATWIN 2002軟件，操作手冊，質(zhì)量認(rèn)證書，儀器箱	2042 D

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LEPTOSKOP 2042 涂層測厚儀

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