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XE-7 經(jīng)濟(jì)型原子力顯微鏡

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XE-7 經(jīng)濟(jì)型原子力顯微鏡

詳細(xì)介紹

在同級(jí)產(chǎn)品中，Park XE7 能夠帶來(lái)高納米級(jí)分辨率的測(cè)量效果。得益于的原子力顯微鏡架構(gòu)，即獨(dú)立的 XY 軸和 Z 軸柔性?huà)呙杵鳎?span style="font-family:Times New Roman;">XE7 能夠?qū)崿F(xiàn)平滑、正交且線(xiàn)性的掃描測(cè)量，從而精確成像和測(cè)量樣品的特征。此外，Park 所的True Non-Contact™ 模式還能為您帶來(lái)的圖像效果，探針可以在多次掃描后圖像的分辨率仍不會(huì)受影響。

Park XE7 擁有簡(jiǎn)潔的圖形用戶(hù)界面和自動(dòng)化工具，即便是初學(xué)者也可以快速地完成對(duì)樣品的掃描。無(wú)論是預(yù)準(zhǔn)直探針、簡(jiǎn)單的樣品和探針更換、輕松的激光準(zhǔn)直、自上而下的同軸視角以及用戶(hù)友好型掃描控制和軟件處理，XE7 能夠全力推動(dòng)研究生產(chǎn)力的提高，Park XE7 不僅僅是經(jīng)濟(jì)實(shí)惠的研究級(jí)原子力顯微鏡，也是總體成本低的原子力顯微鏡。

Park XE7 中所搭載的 True Non-Contact™ 模式讓用戶(hù)無(wú)需頻繁更換昂貴的探針，并且它配有多功能的掃描模式，兼容性，讓您可隨時(shí)升級(jí)系統(tǒng)功能，從而延長(zhǎng)產(chǎn)品的使用壽命。

的產(chǎn)品特點(diǎn)

1）Smartscan智能掃描模式，“1，2，3"點(diǎn)擊即可實(shí)現(xiàn)成像

2）Pinpoint Nanomechanical力控出圖模式，更*的力學(xué)形貌成像及各種電學(xué)測(cè)試

3）強(qiáng)大的內(nèi)置集成軟件系統(tǒng)，自帶LFM/液相AFM/MFM/EFM/KPFM/Force Curve軟件模式

技術(shù)特點(diǎn)

1. XY 軸掃描器含有對(duì)稱(chēng)的二維柔性和高強(qiáng)度壓電疊堆，可在保持平面外運(yùn)動(dòng)少的情況下，實(shí)現(xiàn)高正交運(yùn)動(dòng)以及納米級(jí)樣品掃描下的高響應(yīng)度。緊湊且堅(jiān)固的結(jié)構(gòu)是為了低噪聲高速伺服回應(yīng)而設(shè)計(jì)的；

2. Z 軸掃描范圍可從標(biāo)準(zhǔn)的12 µm增至40µm（選購(gòu)遠(yuǎn)距離 Z 軸掃描器）

3.燕尾式軌道設(shè)計(jì)，輕松更換原子力顯微鏡鏡頭。借助超輻射發(fā)光二極管(SLD) 的低相干性，顯微鏡可精確成像高度反光表面和精密測(cè)量 pico-Newton 力對(duì)距光譜；

4.在手動(dòng) XY 軸樣品臺(tái)的精確控制下，樣品的測(cè)量定位變得簡(jiǎn)單。XY 軸樣品臺(tái)的行程范圍是13 mm x 13 mm；

5.原子力顯微鏡的納米級(jí)信號(hào)是由高性能的 Park XE 電子控制器所控制和處理的。憑借著低噪聲設(shè)計(jì)和高速處理單元，Park XE 電子控制器成功實(shí)現(xiàn)了True Non-Contact™ 模式，這是納米級(jí)成像和精確電壓電流測(cè)量的選擇。

主要功能模式

標(biāo)準(zhǔn)成像，力學(xué)測(cè)試、機(jī)械性能，化學(xué)性能、電性能，光性能（TERS）、熱性能等。

Park XE7不同的選項(xiàng)適合于任何的研究，以下對(duì)石墨烯不同性能的測(cè)試：