LiteScope™是為不同品牌的掃描電子顯微鏡（SEM）設計的“即插即用"的掃描探針顯微鏡。根據客戶需求，定制并提供適當的適配器和反饋機制，很容易通過四個螺絲將LiteScope™固定在電子顯微鏡的樣品臺上，通過線纜與控制器、電腦進行連接。 LiteScope™通過可更換探針進行多種掃描探針顯微鏡（SPM）成像模式。綜合分析包括：表面形貌表征、機械性能、電性能、磁性能。

主要功能

LiteScope™提供并支持各種SPM測量方法和各種探針，其設計基礎和價值的技術特征是通過不同的探針夾，使用不同的探針以達到測試要求。其主要測試功能：原子力顯微鏡（AFM）、靜電力顯微鏡(EFM)、局部電壓/電流測量、力調制模式（FMM）、開爾文探針力模式（KPFM）、磁力顯微鏡（MFM）、掃描隧道顯微鏡（STM）、納米壓痕。

技術特點

LiteScope™采用關聯(lián)探針和電子顯微鏡技術（CPEM），該技術利用兩種不同的技術對同一物體城鄉(xiāng)的方法。CPEM能夠同時對樣品表面的同一個區(qū)域進行SEM和AFM表征。

LiteScope™通常用于高真空環(huán)境，但也可根據要求適用于超高真空環(huán)境。

工作溫度：+15°C至 +25°C

標準工作壓力：10^-5Pa~10⁵ Pa

外形尺寸： 129 mm x 90 mm x 45-55 mm

掃描面積： 22 mm x 11 mm x 8 mm

掃描范圍： 100 um x 100 um x 100 um

分辨率： 0.2nm

技術能力

優(yōu)勢

的關聯(lián)探針和電子顯微鏡技術（CPEM）

綜合表面表征-形貌、粗糙度、磁性、導電性、電性能

在樣品表面對針尖進行精確導航定位

5分鐘內輕松集成和安裝/拆卸

即插即用

與FIB、GIS、EDX等附件兼容

無需光學探測、無需激光調節(jié)的自感應探頭

商用探針，多種測量模式

可根據客戶要求定制探針適配于合適的探針夾

測量頭可縮回LiteScope™的主體，以節(jié)省樣品周圍的空間。

傾斜操作（傾斜0°–60°），最小WD=5 mm

軟件友好，無需特殊安裝

遠程訪問結果和測量設置

應用

生物傳感用石墨烯包裹金納米粒子雜化結構的SEM/AFM表征

金納米粒子與石墨烯掩膜的結合是一種新的制備適用于表面增強拉曼光譜（SER）的活性基底的方法。石墨烯可以作為針孔鈍化層，防止等離子體納米結構氧化。金粒子與石墨烯的接觸程度對SERS的靈敏度有重要影響。因此，了解石墨烯膜對單個納米顆?；虼祟惣{米顆粒簇的遮蓋方式非常重要?？墒褂?/span>CPEM輕松確定納米顆粒在石墨烯膜下的分布以及表面形貌。雖然LiteScope™SPM（AFM）可以對納米顆粒上的石墨烯層進行表面成像，但SEM可以對石墨烯層下的納米顆粒進行成像。

含HFO2顆粒的W-Cr固溶體退火后的降解

在1000°C下退火10小時后W-10Cr-1HF（含HFO2顆粒的固溶W-Cr）的分解?？紫缎纬捎诙趸x顆粒周圍，同時也形成富鉻部分（深色片晶或點）和富W部分（片晶之間的亮區(qū)）。利用CPEM可以快速、準確地識別掃描電鏡圖像中的形貌和材料對比度，很容易區(qū)分HF顆粒與孔隙。用CPEM技術研究了樣品表面的腐蝕速率。