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更新時(shí)間：2024-02-02 13:49:08瀏覽次數(shù)：151次
聯(lián)系我時(shí)，請(qǐng)告知來自 環(huán)保在線The Hiden MAXIM quadrupole SIMS analyser is a state of the art secondary ion mass spectrometer for positive and negative, static, dynamic and neutral analytical applications.
EQS 是差式泵式二次離子質(zhì)譜（SIMS-Secondary Ion Mass Spectrometer ‘Bolt-On’ probe），可分析來自固體樣品的二次陰、陽離子和中性粒子。采用的SIMS 探針，便于連結(jié)到現(xiàn)有的UHV表面科學(xué)研究反應(yīng)室。
·光柵控制，增強(qiáng)深度分析能力
·所有能量范圍內(nèi)，離子行程的最小擾動(dòng)，及恒定離子傳輸
·靈敏度高 / 穩(wěn)定的脈沖離子計(jì)數(shù)檢測(cè)器
·質(zhì)量數(shù)范圍： 300amu，500amu，1000amu
·檢測(cè)器： 離子計(jì)數(shù)探測(cè)器、正負(fù)離子探測(cè)器、107 cps
·質(zhì)量過濾器： 3F四級(jí)桿
·桿直徑： 9mm
·加熱： 250℃
·離子源： 電子轟擊，可用于SNMS和RGA的單根燈絲
MAXIM - Quadrupole SIMS Analyser (562 KB)
AP0088 - Metal-Carbon Composites and Multilayer Thin Films Prepared by Plasma Assisted Sequential Deposition (293 KB)
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