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半圓階梯試塊 GB/T18852-2002

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GB/T18852-2002無損檢測(cè) 超聲檢測(cè)測(cè)量接觸探頭聲束特性的參考試塊

詳細(xì)介紹

GB/T18852-2002無損檢測(cè) 超聲檢測(cè)測(cè)量接觸探頭聲束特性的參考試塊

本標(biāo)準(zhǔn)推薦二塊參考試塊HS半圓階梯試塊和SDH橫孔試塊。本標(biāo)準(zhǔn)為接觸探傷中使用的探頭在固體內(nèi)產(chǎn)生的聲場(chǎng)提供了測(cè)定方法。本標(biāo)準(zhǔn)適用于檢測(cè)鍛鋼或軋制鋼、鋁合金或鈦合金產(chǎn)品的探頭測(cè)定。本標(biāo)準(zhǔn)適用的探頭頻率范圍為1MHz-15MHz。1MHz-15MHzzui適宜于對(duì)鋼鐵產(chǎn)品的檢測(cè)，5MHz-15MHzzui適宜于對(duì)像鋁合金之類的細(xì)晶粒結(jié)構(gòu)產(chǎn)品的檢測(cè)。

1、 HS半圓階梯試塊（HS試塊），使用時(shí)應(yīng)將試塊置于適當(dāng)?shù)哪炯苌?，作為支撐物的木架既不能有損于試塊，也不能產(chǎn)生任何阻尼。
2、 SHD橫孔試塊，僅在用試塊調(diào)整縱波直探頭探傷靈敏度時(shí)候才使用?？v波直探頭探傷允許采用Φ3、Φ4、Φ6當(dāng)量平底孔三種靈敏度。

產(chǎn)品關(guān)鍵字：HS半圓階梯試塊（HS試塊），SHD橫孔試塊