真空紫外光譜儀-model234/302

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更新時間：2022-11-03 13:11:57瀏覽次數(shù)：279次

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產品簡介

特點：1.帶像差校正的光學系統(tǒng)2.配CCD或者MCP做紫外成像光譜儀3. 高光通量，F(xiàn)/4.54.可選項－多端口5.可選項－超高真空度6.結構緊湊、重量輕、成本低

詳細介紹

Model 234/302 真空紫外單色儀

特點：
1.帶像差校正的光學系統(tǒng)
2.配CCD或者MCP做紫外成像光譜儀
3. 高光通量，F(xiàn)/4.5
4.可選項－多端口
5.可選項－超高真空度
6.結構緊湊、重量輕、成本低

234/302是一款緊湊的多功能真空紫外單色儀。13" x 13" x 10"的尺寸，25磅的重量，使這款儀器可以固定在一個真空等離子物理裝置上，也可以裝到一個更大的設備上用做可變?yōu)V波器。234/302既可做VUV掃描單色儀，也可做光譜儀，配上CCD相機或者MCP又可做光譜成像。配上多端口的選項，甚至可以同時作為掃描單色儀和成像光譜儀使用。

234/302的光路設計是基于Seya-Namioka結構，通過旋轉光柵即可改變輸出波長。標準配置采用一個IV型的帶像差校正的1200g/mm凹面光柵，以獲得的光學性能。另有一系列光柵可選：從2400g/mm到300g/mm。光柵的旋轉是通過數(shù)字步進電機Model 789A-3來控制的。
用戶可將儀器直接安裝到樣品室上。狹縫處的固定裝置可以支撐整個儀器的重量。因為有緊湊的結構、高的光通量和高的分辨率等一系列優(yōu)點，234/302在相關領域應用的非常廣泛。

Model 234/302 技術參數(shù)（200mm焦距， f/4.5）
焦距	200-mm, 改進的Seya-Namioka 光路結構
狹縫間工作距離	9’’ (229mm)
出入射光束間夾角	64°或者180°可選
f / #.	4.5
光柵尺寸	40 x 45mm
波長精度	+/-0.10 nm (使用1200 G/mm光柵)
波長重復性	+/- 0.05 nm(使用1200 G/mm光柵)
焦平面	zui寬25mm，傾斜角約 30°
波長范圍	跟所選光柵有關

Model 234/302性能（選用不同光柵）
光柵刻線 (G/mm) (其它亦可提供)	2400	1800	1200	600	300
波長范圍從30nm 到	275nm	365nm	550nm	1,100um	2,200um
分辨率@313.1nm	0.06	0.08	0.1	0.2	0.3
線色散倒數(shù)(nm/mm)	2	3	4	8	16

操作模式

CCD探測/焦平面陣列。234/302使用的像差校正光柵會產生一個焦平面，可配合MCP或者直接探測的CCD相機使用。焦平面位于法線的25°角方向。請廠家了解如何配置一個深紫外或者真空紫外的成像光譜儀。234/302保證了一個潔凈的無污染的操作環(huán)境。
類似的真空紫外系統(tǒng)用于激光閃爍體，以及其它的熒光或磷光材料。也可以用于等離子體診斷以及高次諧波實驗中。

超高真空&無污染。234/304全金屬密封的結構可以提供10^-10Torr的真空度。裝運前會進行殘余氣體分析。這些超高真空的設備污染級別可降到zui低。

雙色散&低雜散光。234/302可做為雙單色儀。機械上相連的結構有助于實現(xiàn)的光柵掃描。在真空度10^-6Torr和超高真空（全金屬密封）10^-10Torr的型號中都有這種雙單色儀結構。