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ImageMaster Universal光學(xué)傳遞函數(shù)測量儀

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更新時間：2024-02-07 08:53:07瀏覽次數(shù)：213次

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深圳維爾克斯光電有限公司

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產(chǎn)品簡介

作為高分辨率光學(xué)傳遞函數(shù)測量儀，可以測量幾乎所有類型光學(xué)系統(tǒng)的光學(xué)參數(shù)，無論從高性能的相機鏡頭還是到瞄準(zhǔn)裝置都可以使用本系列產(chǎn)品進行精確的測量。

詳細介紹

ImageMaster Universal光學(xué)傳遞函數(shù)測量儀，高精度，全波段，全自動測量

ImageMaster Universal光學(xué)傳遞函數(shù)測量儀由全歐光學(xué)(TRIOPTICS)設(shè)計打造，是其公司下性能的產(chǎn)品，可以測量幾乎所有的光學(xué)系統(tǒng)的參數(shù)，同時具有高精度，高分辨率，全波段以及全自動的測量效果，可測量的對象包括有高性能相機鏡頭，瞄準(zhǔn)裝置等等

ImageMaster Universal光學(xué)傳遞函數(shù)測量儀的技術(shù)規(guī)格

技術(shù)規(guī)格	描述
系統(tǒng)配置	無限-有限共軛系統(tǒng)、有限-有限共軛系統(tǒng)、無焦系統(tǒng)
離軸角度	±120°（可擴展至±180°）
光譜范圍	UV：250 nm-450 nm VIS：450 nm-700 nm NIR：700 nm-1000 nm SWIR：1000 nm-2500 nm MWIR：3 um-5 um LWIR：7 um- 13 um
樣品焦距范圍	5 mm-2000 mm（可擴展）
通光口徑	450 mm（可擴展）
測量方位角	360°
圖像高度	±50 mm
空間頻率	UV: 100 lp/mm VIS / NIR: 500 lp/mm SWIR: 120 lp/mm MWIR: 80 lp/mm LWIR: 60 lp/mm
MTF測量精度	±0.02 MTF 軸上 ±0.03 MTF 軸外
MTF測量重復(fù)性	±0.01 MTF
EFL測量精度	±0.2 %
畸變測量精度	±0.7 % 無編碼器 ±0.25 % 帶編碼器
畸變測量重復(fù)性	±0.3 % 無編碼器 ±0.1 % 帶編碼器
橫向色差測量精度	±0.5 um
橫向色差測量重復(fù)性	±0.3 um
縱向色差測量精度	±1 um
縱向色差測量重復(fù)性	±0.2 um
CRA測量精度	±1°
CRA測量重復(fù)性	±0.4°
FFL（相對值）測量精度	±2 um
FFL（相對值）測量重復(fù)性	±1 um
散光測量精度	±4 um
散光測量重復(fù)性	±1 um
場曲率測量精度	±2 um
場曲率測量重復(fù)性	±1 um

研發(fā)型高精度光學(xué)傳遞函數(shù)測量儀的空間頻率可以能隨著被測樣品和光管的焦距比而變化

德國全歐光學(xué)(TRIOPTICS)設(shè)計、生產(chǎn)的ImageMaster Universal光學(xué)傳遞函數(shù)測量儀是ImageMaster光學(xué)傳遞函數(shù)測量儀系列中的產(chǎn)品，可以測量幾乎所有類型光學(xué)系統(tǒng)的光學(xué)參數(shù)。

高精度光學(xué)傳函儀ImageMaster使用高精度、長壽命的零部件，采用創(chuàng)新設(shè)計的臥式結(jié)構(gòu)，更加使用于中型和更大的鏡頭檢測。例如相機鏡頭的制造和用于空間探索的航空鏡頭或透鏡的開發(fā)。臥式結(jié)構(gòu)的高精度光學(xué)傳遞函數(shù)測量儀ImageMaster Universal提供ImageMaster光學(xué)傳遞函數(shù)測量儀系列中的精度和極大的穩(wěn)定性。

研發(fā)型高精度光學(xué)傳遞函數(shù)測量儀提供了較好的圖像質(zhì)量和較高信噪比的高分辨率光學(xué)傳遞函數(shù)測量儀。全歐光學(xué)作為的光學(xué)檢測設(shè)備制造廠商，始終保證光學(xué)傳函儀的測量結(jié)果符合國際標(biāo)準(zhǔn)的可追溯性。