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M-3手持式四探針測試儀

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更新時間：2023-06-30 16:05:12瀏覽次數(shù)：252次

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產(chǎn)品簡介

M-3手持式四探針測試儀

詳細介紹

M-3手持式四探針測試儀是運用四探針測量原理測試材料電阻率/方塊電阻的多用途、高性價比測量儀器。廣泛適用于半導體材料廠、科研單位、高等院校四探針法對導體、半導體、類半導體材料的導電性能的測試。

操作視頻

產(chǎn)品型號

M-3手持式四探針電阻率測試儀

主要特點

1、測試儀由M-3型主機和四探針探頭兩部分組成

2、手持式設(shè)計，帶完善厚度、形狀修正功能，測試精準

3、寬量程：超寬五個檔位，相當于中檔臺式機的量程

4、操作簡便、性能穩(wěn)定：輕觸數(shù)字化鍵盤實現(xiàn)參數(shù)設(shè)定、功能轉(zhuǎn)換，LED數(shù)字表頭顯示

5、多款探頭可選，適用于各種不同材料的導電性能測試

技術(shù)參數(shù)

1、工作電源

208-240V，50/60Hz；電池供電：DC3.7V

2、測量范圍、分辨率

電阻：0.010～50.00kΩ 分辨率：0.001～10 Ω

電阻率：0.010～20.00kΩ-cm 分辨率：0.001～10 Ω-cm

方塊電阻：0.050～100.00kΩ/m² 分辨率0.001～10Ω/m²

3、基本誤差：±1%FSB±2LSB

4、外形尺寸：210mm L × 100mm W × 36mm H

5、凈重：0.3kg

可選配件

1探頭

根據(jù)不同材料特性需要，探頭可有多款選配

碳化鎢探針探頭（固體材料）：測試硅等半導體、金屬、導電塑料類等硬質(zhì)材料（詳見圖1）；球形或平頭鍍金銅合金探針探頭（薄膜）：可測金屬箔、碳紙等導電薄膜，也可測陶瓷、玻璃或PE膜等基底上導電涂層膜，如金屬鍍膜、噴涂膜、ITO膜、電容卷積膜等材料的薄膜涂層（詳見圖2）；探頭頭部安裝有平衡基座避免人手操作的誤差（詳見圖3）。