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CMS STEP電化學電位儀

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更新時間：2022-12-15 14:06:17瀏覽次數(shù)：271次

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產(chǎn)品簡介

用來測定多層鎳鍍層系統(tǒng)中各個單個的鍍層厚度以及各鍍層之間的電化學電位差

詳細介紹

CMS STEP電化學電位儀

分步測量 (Simultaneous Thickness and Electrochemical Potential) 是一種已定型很久的測試方法，用來測定多層鎳鍍層系統(tǒng)中各個單個的鍍層厚度以及各鍍層之間的電化學電位差。在電鍍工業(yè)中，對多層鎳的測量變得越來越重要了，例如雙層鎳的測量已成為一種標準的操作。

COULOSCOPE® CMS STEP儀器高的電壓分辨率可以測量頂層為微孔鎳或微裂紋鎳與下層光亮鎳之間的電位，以及光亮鎳和半光亮鎳之間的電位。（若需要，還可以是光亮鎳和半光亮鎳之間的高的硫化鎳）

COULOSCOPE®CMS STEP應用領域：

同時測量雙層鎳或三層鎳鍍層的厚度和電化學電位。

幾乎可以測量所有金屬或非金屬基材上的金屬鍍層的厚度，甚至是多鍍層系統(tǒng)。

在工業(yè)和特殊領域內(nèi)的具體應用范圍：

電鍍工業(yè)中的產(chǎn)品監(jiān)控；由于新穎電極簡便的操作，該儀器上乘地適用于電鍍車間繁雜的工作環(huán)境！

成品的入庫檢驗，例如汽車工業(yè)中鉻合金輪轂澆筑件（帶雙層鎳）。

顯而易見的優(yōu)點:

快速測試結果（比較于非?；ㄙM時間的鹽霧測試機）

近100個預定義的測量程式（從例如鐵上鍍鋅的單鍍層到例如合成材料上鍍鉻，鎳，銅的三鍍層）

測量單元安排。這一正在申請磚利的設計確保了參考電極與被測工件?reg;間始終相等的距離。這對于重復精度，測量精度是非常重要的

測量單元無需復雜調(diào)整

界面友好，菜單指引

采用根據(jù)DIN EN ISO 2177和ASTM B764-94標準的庫侖測試方法。如此，不僅銅鍍層，多層鎳鍍層以及鉻鍍層的厚度，而且鎳鍍層?reg;間的電化學電位都可以輕松測出。

大顯示屏，清晰的鍵盤

STEP-View軟件的特點：

電腦軟件STEP-View 可以方便地用來保存和計算所測的電位圖。當然，儀器本身也可以直接進行計算。
在STEP-View軟件中，所測電位圖的輪廓可以通過點擊鼠標從儀器中讀出。鍍層厚度的測量和電位差的測量分別產(chǎn)生在二個分開的圖形中?？梢酝ㄟ^在圖形相關部位設定多達5個的標記來輕松設定感興趣的數(shù)值。數(shù)據(jù)可以輸出到Excel 電子表格，數(shù)據(jù)圖形可以保存為常用的圖形格式以及設定多種打印模板。