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日本堀場(chǎng)X熒光光譜儀

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產(chǎn)品型號(hào)XGT-5200WR

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更新時(shí)間：2023-11-05 09:37:33瀏覽次數(shù)：254次

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產(chǎn)品簡(jiǎn)介

日本堀場(chǎng)X熒光光譜儀

詳細(xì)介紹

概要

400μm的X射線(xiàn)光斑，為有害元素的控制提供了高分辨率的掃描分析，適合小到IC集成塊單一引腳的分析。同時(shí)提供小光斑—10μm （可選配件）。

SDD檢測(cè)器極大地提高了分辨率和計(jì)數(shù)率，且無(wú)需使用液氮（LN₂）

無(wú)需任何樣品制備或真空--樣品僅需要放置在樣品室中，即可在正常大氣壓力下分析。整合的軟件可控制樣品的移動(dòng)，獲取數(shù)據(jù)分析（包括定性和定量分析，并生成成分組成圖像）。將樣品放在樣品祥中后，只需幾秒鐘，借助直觀(guān)的“point and click"選擇分析位置，即開(kāi)始抓取數(shù)據(jù)。

樣品觀(guān)察采用同軸幾何呈象，可消除視差，您可以相信，看到的樣品即是測(cè)量的位置。

儀器裝載了兩個(gè)X射線(xiàn)管，從而使用戶(hù)能夠簡(jiǎn)單地切換顯微和宏觀(guān)光束，可適用于一系列實(shí)驗(yàn)。這些光管傳遞的高強(qiáng)度光斑確保了的數(shù)據(jù)獲取時(shí)間。而光管的單毛細(xì)管設(shè)計(jì)非常適合高強(qiáng)度的元素成像，甚至對(duì)于不平整樣品同樣有效。

通過(guò)自動(dòng)采樣掃描很容易獲得XRF面掃描圖像，樣品下方的第二次信號(hào)檢測(cè)能同時(shí)收集X射線(xiàn)透射圖像。這項(xiàng)技術(shù)可提供額外的結(jié)構(gòu)信息，極有利于對(duì)興趣區(qū)域的定位，或了解樣本的內(nèi)部結(jié)構(gòu)。