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AFM-拉曼和針尖增強(qiáng)拉曼散射（TERS）

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更新時間：2024-02-09 11:51:32瀏覽次數(shù)：215次

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產(chǎn)品簡介

AFM-拉曼和針尖增強(qiáng)拉曼散射（TERS）

詳細(xì)介紹

AFM-拉曼和針尖增強(qiáng)拉曼散射（TERS）

One powerful tool for all your needs

Tip-Enhanced Raman (TERS): chemical imaging at the nanoscale

TERS brings you the best of both worlds: the chemical specificity of Raman spectroscopy with imaging at spatial resolution typically down to 10nm. This technique can be demonstrated on various samples ranging from 1D and 2D nanomaterials to DNA.

: Tip-Enhanced Raman (TERS) image of a graphene oxide flake and several carbon nanotubes chemically resolved down to 15nm.

將您的所有需求集成到一個強(qiáng)大的系統(tǒng)中

HORIBA拉曼技術(shù)非常容易與掃描探針顯微鏡（SPM）耦聯(lián)。我們所提供的解決方案使用直接光路耦合，對其進(jìn)行優(yōu)化以實現(xiàn)高通量。該平臺可以把原子力顯微鏡（AFM）、近場光學(xué)技術(shù)（SNOM, NSOM）、掃描隧道顯微鏡（STM）和共焦光學(xué)光譜儀（拉曼和熒光成像）耦合到一臺多功能的儀器中，以實現(xiàn)針尖增強(qiáng)拉曼散射（TERS）或共點測量。

HORIBA和幾乎所有的制造商合作，包括AIST-NT、安捷倫、Asylum Research、布魯克（原來的Veeco）、JPK、Nanonics和Park。

結(jié)合納米成像和化學(xué)分析

: 單層、雙層和三層石墨烯的共點AFM和拉曼成像

AFM和其他SPM技術(shù)可提供分子級別分辨率下的形貌、力學(xué)、熱能、電磁場和近場光學(xué)特性。
共焦拉曼光譜和成像可提供納米材料在亞微米空間分辨率下的詳細(xì)化學(xué)信息。
同步測量的平臺，有助于您獲得可靠且位置高度重合的圖像。
結(jié)合高性能和易用性，HORIBA將會根據(jù)您所選擇的SPM制造商提供一個可靠、全功能的解決方案
針尖增強(qiáng)拉曼光譜(TERS)的光學(xué)、機(jī)械和軟件都是經(jīng)過優(yōu)化設(shè)計的，同時有HORIBA在拉曼光譜幾十年的經(jīng)驗做技術(shù)支持，您可以自信地使用這一技術(shù)。