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YED-N9納米粒度儀

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產(chǎn)品型號YED-N9

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更新時間：2022-12-23 16:15:50瀏覽次數(shù)：221次

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廈門億恩達(dá)科技有限公司

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產(chǎn)品簡介

YED-N9是我公司推出的基于動態(tài)光散射原理的納米粒度儀

詳細(xì)介紹

YED-N9是我公司推出的基于動態(tài)光散射原理的納米粒度儀。它采用高速數(shù)字相關(guān)器和專業(yè)的高性能光電倍增管作為核心器件，具有快速、高分辨率、重復(fù)及準(zhǔn)確等特點(diǎn)，是納米顆粒粒度測定的產(chǎn)品。
主要性能特點(diǎn)：
    的測試原理：本儀器采用動態(tài)光散射原理和光子相關(guān)光譜技術(shù)，根據(jù)顆粒在液體中的布朗運(yùn)動的速度測定顆粒大小。小顆粒布朗運(yùn)動速度快，大顆粒布朗運(yùn)動速度慢，激光照射這些顆粒，不同大小的顆粒將使散射光發(fā)生快慢不同的漲落起伏。光子相關(guān)光譜法就根據(jù)特定方向的光子漲落起伏分析其顆粒大小。因此本儀器具有原理、精度的特點(diǎn)，從而保證了測試結(jié)果的真實(shí)性和有效性；是納米激顆粒粒度測定的儀器。
    高靈敏度與信噪比：本儀器的探測器采用專業(yè)級高性能光電倍增管（PMT），對光子信號具有的靈敏度和信噪比，從而保證了測試結(jié)果的準(zhǔn)確度；
    的分辨能力：使用PCS技術(shù)測定納米級顆粒大小，必須能夠分辨納秒級信號起伏。本儀器的核心部件采用公司研制的CR140數(shù)字相關(guān)器，具有識別8ns的分辨能力和的信號處理速度，因此可以得到準(zhǔn)確的測定結(jié)果。
  的運(yùn)算功能：本儀器采用自行研制的高速數(shù)字相關(guān)器CR140進(jìn)行數(shù)據(jù)采集與實(shí)時相關(guān)運(yùn)算，其數(shù)據(jù)處理速度高達(dá)125M，從而實(shí)時有效地反映顆粒的動態(tài)光散射信息。
穩(wěn)定的光路系統(tǒng)：采用短波長LD泵浦激光光源和光纖技術(shù)搭建而成的光路系統(tǒng)，使光子相關(guān)譜探測系統(tǒng)不僅體積小，而且具有很強(qiáng)的抗力，從而保證了測試的穩(wěn)定性。
高精度溫控系統(tǒng)：樣品池溫控系統(tǒng)和激光器溫控系統(tǒng)精度高達(dá)±0.1℃，使被測樣品和激光器光源在整個測試過程中都處于恒溫狀態(tài)，避免溫度變化對不測試結(jié)果的影響，確保測試準(zhǔn)確和重復(fù)；
功能的分析軟件：分析軟件中反演算法采用國際標(biāo)準(zhǔn)推薦的累計量法以及目前比較通用的非負(fù)最小二乘法（NNLS）和Contin等多種算法，其測試結(jié)果與國際的同類產(chǎn)品具有很好的一致性；
測試精準(zhǔn)并穩(wěn)定：高性能的硬件和國際標(biāo)準(zhǔn)化的反演算法的結(jié)合，造就了Nano90測試結(jié)果的精準(zhǔn)與重復(fù)，其測試準(zhǔn)確度和重復(fù)性等指標(biāo)均高于國際標(biāo)準(zhǔn)要求。
此款納米粒度儀已經(jīng)達(dá)到國外納米粒度儀的測試水平！

YED-N9光相關(guān)納米粒度儀技術(shù)參數(shù)及詳細(xì)配置

規(guī)格型號	YED-N9
執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)	GB/T 29022-2012/ISO 22412：2008
測試范圍	1-10000nm(與樣品有關(guān))
濃度范圍	0.1mg/L-100mg/L
準(zhǔn)確度誤差	<1%（國家標(biāo)準(zhǔn)樣品平均粒徑）
重復(fù)性誤差	<1%（國家標(biāo)準(zhǔn)樣品平均粒徑）
激光	λ=532nm，LD泵浦激光器（帶溫控保護(hù)）
探測器	光電倍增管（PMT）
散射角	90°
樣品池	10mm*10mm , 4ml（帶溫控保護(hù)）
溫度范圍	8-45℃（溫度精確到0.1℃）
測試速度	<1Min/次（不含樣品分散時間）

完善的體系：
一、
1．所有儀器保修期為二年，貳年內(nèi)非人為及自然條件損壞無責(zé)保修；
2．出保前兩個月內(nèi)客戶可申請上門維護(hù)儀器一次；
3．出保的儀器維修僅收取成本費(fèi)用；
4．山東、江蘇、河南、河北及京津地區(qū)24小時內(nèi)到達(dá)客戶現(xiàn)場，其余省份48小時到達(dá)客戶現(xiàn)場（邊遠(yuǎn)地區(qū)、客流高峰期及不可抗拒自然災(zāi)害除外）

關(guān)鍵詞：納米粒度儀數(shù)據(jù)采集粒度儀