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恒溫箱手機電源芯片半導體測試高低溫試驗箱

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更新時間：2023-10-23 11:19:37瀏覽次數(shù)：156次

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產(chǎn)品簡介

恒溫箱手機電源芯片半導體測試高低溫試驗箱專業(yè)研發(fā)設計生產(chǎn)銷售服務可靠性環(huán)境試驗設備生產(chǎn)廠商支持國內(nèi)聯(lián)保，快速送貨上門，安裝、調(diào)試、和現(xiàn)場培訓，售后無憂。聯(lián)系客服了解詳情，享受優(yōu)惠價格

詳細介紹

恒溫箱手機電源芯片半導體測試高低溫試驗箱
高低溫試驗箱:適用于工業(yè)產(chǎn)品高溫、低溫的可靠性試驗。對電子電工、汽車摩托、航空航天、船舶兵器、高等院校、科研單位等相關(guān)產(chǎn)品的零部件及材料在高溫、低溫(交變)循環(huán)變化的情況下，檢驗其各項性能指標。

產(chǎn)品具有較寬的溫度控制范圍，其性能指標均達到國家標準GB10592-89高低溫試驗箱技術(shù)條件，適用于按GB2423.1、GB2423.2《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗試驗A:低溫試驗方法，試驗B:高溫試驗方法》對產(chǎn)品進行低溫、高溫試驗及恒定溫熱試驗。產(chǎn)品符合GB2423.1、GB2423.2、GJB150.3、GJB150.4、IEC、MIL標準。

專業(yè)研發(fā)設計生產(chǎn)銷售服務

可靠性環(huán)境試驗設備生產(chǎn)廠商支持國內(nèi)聯(lián)保，快速送貨上門，安裝、調(diào)試、和現(xiàn)場培訓，售后無憂。聯(lián)系客服了解詳情，享受優(yōu)惠價格

恒溫箱手機電源芯片半導體測試高低溫試驗箱

一、用途
適應于儀器、儀表、電工、電子產(chǎn)品電子零組件，成品、半成品、半導體、化學、材料等個中環(huán)境測試整機及零部件等作溫度快速變化或漸變條件下的適應性試驗及應力篩選試驗以便對試品在擬定條件下的性能、行為作出分析及評價（快速變化）.符合 MIL-STAND.IEC,S 測試規(guī)范
快速溫變試驗機，采用歐美之防爆把手，外觀質(zhì)感高水準，全系列日制控制器，進皆式設定，操作簡單，快速升降溫試驗箱可供作超低溫試驗，電子零組件，成品、半成品、半導體、化學、材料等個中環(huán)境測試設備。

二、試驗方法
1.GB2423.1-89 試驗 A 低溫試驗方法
2.GB2423.2-89 試驗 B 高溫試驗方法
3.IEC68-2-1 試驗 A
4.IEC68-2-1 試驗 B
5.GJB1032-90 環(huán)境應力篩選方法

三、滿足標準
1.GB10589-89 低溫試驗箱技術(shù)條件
2.GB11158-89 高溫試驗箱技術(shù)條件
3.GB10592-89 高低溫試驗箱技術(shù)條件
4.GB2423.1 低溫試驗、試驗A
5.GB2423.2 高溫試驗、試驗B
6.GB2423.22 溫度變化試驗、試驗N
7.IEC68-2-1 試驗A
8.IEC68-2-2 試驗B
9.IEC68-2-14 試驗N

六、技術(shù)參數(shù)

升降溫速率：3℃/分, 5℃/分, 8℃/分,10℃/分,15℃/分鐘線性平均或非線性平均.
非線性時可達25℃/分鐘,若需特殊規(guī)格請洽詢本公司.
控制穩(wěn)定度：&plsmn;0.5℃
分布均勻度：&plsmn;1.5℃
溫度偏差：≤&plsmn;2℃
正常升溫時間：-70℃~150℃小于60分;-40℃~150℃小于50分;-20℃~150℃小于35分.
正常降溫時間：+20~-70℃小于70分;+20~-40℃小于55分;+20~-20℃小于35分.
內(nèi)箱材質(zhì)：SS 304#鏡面不銹鋼板
外箱材質(zhì)：特殊防銹處理之鋼板噴塑或SS304#紋路處理之不銹鋼.
保溫層材質(zhì)；P發(fā)泡+玻璃棉.
底座材質(zhì)：國標角鐵+槽鋼.
冷凍系統(tǒng)；風冷或水冷式歐美半封閉或封閉壓縮機組,散熱片式自動負載容量調(diào)整蒸發(fā)器.
加熱系統(tǒng)：加熱器:不銹綱鰭片散熱管型加熱管加熱空氣循環(huán)方式.
安全保護裝置：無熔絲過載探保護,壓縮機過熱, 過流,超壓,加熱干燒, 箱內(nèi)超溫警報系統(tǒng).
標準配置：觀視窗(45x30cm),測試孔(￠50x1只),試料架(2組) 超溫保護器, 視窗燈.