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丞普諾儀器（蘇州）有限公司
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丞普諾儀器（蘇州）有限公司
| 參 考 價(jià) | 面議 |
產(chǎn)品型號(hào)
品 牌
廠商性質(zhì)其他
所 在 地蘇州市
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更新時(shí)間：2022-09-26 15:35:20瀏覽次數(shù)：137次
聯(lián)系我時(shí)，請(qǐng)告知來自 環(huán)保在線測(cè)厚儀產(chǎn)品描述品牌一六儀器型號(hào)XTU-A類別下照式儀器尺寸550mm*480mm*470mm儀器重量45KGXY軸工作臺(tái)移動(dòng)范圍50mm*50mmXY軸工作臺(tái)承重5KG測(cè)量元素范圍CI（17）-U（92）不同層相同元素檢查能力選配涂鍍層分析范圍CI（17）-U（92）分析軟件同時(shí)分析23個(gè)鍍層24種元素X射線裝置微聚焦射線管準(zhǔn)直器φ0
| 品牌 | 一六儀器 | 型號(hào) | XTU-A |
| 類別 | 下照式 | 儀器尺寸 | 550mm*480mm*470mm |
| 儀器重量 | 45KG | XY軸工作臺(tái)移動(dòng)范圍 | 50mm*50mm |
| XY軸工作臺(tái)承重 | 5KG | 測(cè)量元素范圍 | CI（17）-U（92） |
| 不同層相同元素檢查能力 | 選配 | 涂鍍層分析范圍 | CI（17）-U（92） |
| 分析軟件 | 同時(shí)分析23個(gè)鍍層24種元素 | X射線裝置 | 微聚焦射線管 |
| 準(zhǔn)直器 | φ0.5mm、φ0.2mm兩準(zhǔn)直器任選一種 | 測(cè)量距離 | 具有距離補(bǔ)償功能，可改變測(cè)量距離測(cè)量凹凸異行物品，變焦距離可達(dá)0-30mm |
| 對(duì)焦方式 | 高敏感鏡頭，手動(dòng)對(duì)焦 | 樣品臺(tái)移動(dòng) | 手動(dòng)無滑軌 |
| 其他附件 | 電腦一套，噴墨打印機(jī)，附件箱，12元素片，電鍍液測(cè)量杯（選配）標(biāo)準(zhǔn)片（選配） |
丞普諾儀器（蘇州）有限公司產(chǎn)品*可以與國(guó)外同類產(chǎn)品相媲美。本公司擁有行業(yè)的技術(shù)人才具有豐富的設(shè)計(jì)制造經(jīng)驗(yàn)。多年來與各大學(xué)、科研院所保持著緊密的合作關(guān)系。
膜厚儀是一種比較精密的監(jiān)測(cè)設(shè)備，它在平時(shí)的使用中對(duì)于度的要求很高，但是還是會(huì)有誤差的現(xiàn)象發(fā)生，除了儀器本身的一些故障以外，環(huán)境因素也是造成誤差的“元兇"，本文就介紹一下膜厚儀在不同環(huán)境下影響因素的有關(guān)說明：
1、基體金屬磁性質(zhì)
磁性法測(cè)厚受基體金屬磁性變化的影響(在實(shí)際應(yīng)用中，低碳鋼磁性的變化可以認(rèn)為是輕微的)，為了避免熱處理和冷加工因素的影響，應(yīng)使用與試件基體金屬具有相同性質(zhì)的標(biāo)準(zhǔn)片對(duì)儀器進(jìn)行校準(zhǔn);亦可用待涂覆試件進(jìn)行校準(zhǔn)。
2、基體金屬電性質(zhì)
基體金屬的電導(dǎo)率對(duì)測(cè)量有影響，而基體金屬的電導(dǎo)率與其材料成分及熱處理方法有關(guān)。使用與試件基體金屬具有相同性質(zhì)的標(biāo)準(zhǔn)片對(duì)儀器進(jìn)行校準(zhǔn)。
3、基體金屬厚度
每一種儀器都有一個(gè)基體金屬的臨界厚度。大于這個(gè)厚度，測(cè)量就不受基體金屬厚度的影響。
4、邊緣效應(yīng)
本儀器對(duì)試件表面形狀的陡變敏感。因此在靠近試件邊緣或內(nèi)轉(zhuǎn)角處進(jìn)行測(cè)量是不可靠的。
5、曲率
試件的曲率對(duì)測(cè)量有影響。這種影響總是隨著曲率半徑的減少明顯地。因此，在彎曲試件的表面上測(cè)量是不可靠的。
6、試件的變形
測(cè)量頭會(huì)使軟覆蓋層試件變形，因此在這些試件上測(cè)出可靠的數(shù)據(jù)。
7、表面粗糙度
基體金屬和覆蓋層的表面粗糙程度對(duì)測(cè)量有影響。粗糙程度，影響。粗糙表面會(huì)引起系統(tǒng)誤差和偶然誤差，每次測(cè)量時(shí)，在不同位置上應(yīng)增加測(cè)量的次數(shù)，以克服這種偶然誤差。如果基體金屬粗糙，還必須在未涂覆的粗糙度相類似的基體金屬試件上取幾個(gè)位置校對(duì)儀器的零點(diǎn);或用對(duì)基體金屬?zèng)]有腐蝕的溶液溶解除去覆蓋層后，再校對(duì)儀器的零點(diǎn)。
8、磁場(chǎng)
周圍各種電氣設(shè)備所產(chǎn)生的強(qiáng)磁場(chǎng)，會(huì)嚴(yán)重地干擾磁性法測(cè)厚工作。
9、附著物質(zhì)
本儀器對(duì)那些妨礙測(cè)量頭與覆蓋層表面緊密接觸的附著物質(zhì)敏感，因此，必須清除附著物質(zhì)，以保證儀器測(cè)量頭和被測(cè)試件表面直接接觸。
10、測(cè)量頭壓力
測(cè)量頭置于試件上所施加的壓力大小會(huì)影響測(cè)量的讀數(shù)，因此，要保持壓力恒定。
11、測(cè)量頭的取向
測(cè)量頭的放置方式對(duì)測(cè)量有影響。在測(cè)量中，應(yīng)當(dāng)使測(cè)量頭與試樣表面保持垂直。
膜厚儀分類
定性定量分析:可定性分析20多種金屬元素,并可定量分析成分含量.
光譜對(duì)比功能:可將樣品的光譜和標(biāo)準(zhǔn)件的光譜進(jìn)行對(duì)比,可確定樣品與標(biāo)準(zhǔn)件的差別,從而控制來料的純度.
統(tǒng)計(jì)功能:能夠?qū)y(cè)量結(jié)果進(jìn)行系統(tǒng)分析統(tǒng)計(jì),方便有效的控制品質(zhì).
膜厚儀采用電渦流原理的測(cè)厚儀，原則上對(duì)所有導(dǎo)電體上的非導(dǎo)電體覆層均可丈量，如航天表面、車輛、家電、鋁合金門窗及其它鋁制品表面的漆，塑料涂層及陽(yáng)極氧化膜。覆層材料有一定的導(dǎo)電性，通過校準(zhǔn)同樣也可丈量，但要求兩者的導(dǎo)電率之比至少相差3-5倍(如銅上鍍鉻)。
膜厚儀主要性能優(yōu)勢(shì)：采用極速探測(cè)器技術(shù)；探測(cè)信噪比更強(qiáng)，檢出限更低；采用大功率X光管及的數(shù)字多道技術(shù)；光閘系統(tǒng)，提高測(cè)試效率與測(cè)試精度；精密的定位系統(tǒng)，更清晰的顯示測(cè)試點(diǎn)；多點(diǎn)測(cè)試，多點(diǎn)連續(xù)測(cè)試超小樣品檢測(cè)；人性化的設(shè)計(jì)：更安全、更快捷：預(yù)約預(yù)熱：預(yù)約關(guān)機(jī)。
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