X射線衍射儀
型號:AOD3700型
一、AOD3700型X射線衍射儀(XRD)采用了一維陣列探測器,測試結(jié)果更加精確,大大縮短了測試時間。
《X射線衍射儀》技術(shù)參數(shù)要求:
1 X射線發(fā)生器部分
1.1額定輸出功率:5kW;
1.2管電壓:10~60kV 1kV/step;
1.3管電流:2~80mA 1mA/step;
1.4管電壓、管電流穩(wěn)定度:≤0.005%;
1.5有過壓、過流、過功率、無壓、無水、循環(huán)水超溫等保護;
1.6kV、mA升降,光閘開關(guān)由微機控制功能;
1.7 X射線管:波紋陶瓷或金屬陶瓷、Cu靶、焦點1×10mm2(0.4×12mm2)、功率 2.4kW。
★2 測角儀及控制部分
2.1衍射圓半徑:樣品水平θ—θ結(jié)構(gòu),衍射圓半徑150mm~285mm(連續(xù)可調(diào));
2.2掃描方式:連續(xù)、步進、透射、Omg掃描方式,θs、θd臂單動或聯(lián)動;
2.3采用分動控制;采用伺服電機,光學編碼技術(shù)控制測角儀轉(zhuǎn)動,自動消空程、角度校正;角度定位速度:1500˚/min;
2.4測量方式:常規(guī)衍射或透射方式;
2.5測量范圍: 2θ:-30 ˚—161˚;
2.6角度轉(zhuǎn)動范圍:θs:-15 ˚—200 ˚,θd:-105 ˚—150 ˚
2.5連續(xù)掃描速度::0.0012—120˚/min;
2.6*小步寬角度:0.0001˚;
2.7 2θ角度重復精度:0.0001˚;
2.8 全譜圖2θ角線性精度:≤±0.01˚。
★3記錄控制單元(觸摸屏,且采用PLC控制線路)
3.1測角儀及X射線發(fā)生器自動控制;
3.2探測器:陣列探測器;
線性計數(shù)率:1*109cps,無噪音;動態(tài)范圍:(bit)24;
通道數(shù):640; 通道寬:(um)50;
能量分辨率(eV):687±5; 讀出時間(us): 89;
能譜范圍(KeV):4-40;冷卻模式:空氣風冷;
2Theta覆蓋角度: >4.5度;操作使用環(huán)境:0℃到+50℃.
3.3測量標準樣品si粉,采樣時間0.1秒,步寬角度0.01 ˚時,主峰28.442 ˚的半峰寬優(yōu)于0.075,且主峰分辨率≤85%。
3.4樣品測試速度是傳統(tǒng)探測器的幾十倍以上。
4 工作站部分:雙核、內(nèi)存≥4G、硬盤≥500G、獨立顯卡、≥22寸LED, A4幅面數(shù)據(jù)輸出設(shè)備。
★5 射線防護及報警裝置
5.1鉛+鉛玻璃防護,具有射線防護門禁開功能,光閘窗口與防護罩連鎖,防護罩外射線計量不大于0.1μSv/h;
5.2防護標準:防護標準達到GBZ115-2002《X射線衍射儀和熒光分析儀衛(wèi)生防護標準》的要求。取得省級或以上環(huán)保部門頒發(fā)的輻射安全許可證。X射線泄漏量≤0.1μSv/h。
6衍射儀控制、數(shù)據(jù)處理軟件
6.1支持Windows7操作系統(tǒng)的控制及應(yīng)用軟件;
6.2自動控制X射線發(fā)生器的管電壓、管電流、光閘及射線管老化訓練;
6.3控制測角儀連續(xù)或步進掃描,同時進行衍射數(shù)據(jù)采集;
6.4對衍射數(shù)據(jù)進行常規(guī)處理:自動尋峰、手動尋峰、積分強度、峰高、重心、背景扣除、平滑、峰形放大、譜圖對比。.
7應(yīng)用軟件部分:物相定性、定量分析、Kα1、α2剝離、全譜圖擬合、選峰擬合、半高寬和晶粒尺寸計算、晶胞測定、二類應(yīng)力計算、衍射線條指標化、多重繪圖、3D繪圖、衍射數(shù)據(jù)校準、背景扣除、無標樣定量分析等功能、全譜圖擬合(WPF)、XRD衍射譜圖模擬。
8整機綜合穩(wěn)定度:≤0.3% 。
更新時間:2021/11/23 15:54:42