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ICP-MS記憶效應(yīng)測(cè)試標(biāo)液1 CL-MEM-1

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產(chǎn)品類別: 無(wú)機(jī)標(biāo)物 ICP-MS多元素混標(biāo) ICP-MS記憶效應(yīng)測(cè)試標(biāo)液

詳細(xì)介紹

--- 美國(guó)SPEX Claritas PPT級(jí) ICP-MS標(biāo)液 ---

ICP-MS記憶效應(yīng)測(cè)試標(biāo)液1

Memory Test 1

元素：1000μg/mL: Al, Ca, Fe, K, Mg, Na
20μg/mL: Ag, As, Ba, Be, Cd, Co, Cr, Cu, Mn, Ni, Pb, Se, Tl, V, Zn
基體：5% HNO3
體積：125mL
編號(hào)：CL-MEM-1

用途：Claritas PPT 級(jí)，電感耦合等離子體質(zhì)譜儀（ICP-MS）分析用元素標(biāo)液。
證書(shū)：每份標(biāo)液都附有一份內(nèi)容詳細(xì)的標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)證書(shū)，證書(shū)報(bào)告標(biāo)液中多至68種痕量雜質(zhì)元素含量實(shí)際測(cè)量結(jié)果。
溯源：美國(guó)NIST SRM (Traceable by NIST SRM)

**應(yīng)用參考 · INSTRUCTION**

為鑒定或確認(rèn)分析物******濃度不致于引起超過(guò)合約檢出限CRDL的記憶效應(yīng)，不直接測(cè)試此標(biāo)液，而是等份兩溶液CL-MEM-1和CL-MEM-2混合并引入儀器，停留與樣品測(cè)試同樣的時(shí)間，然后引入空白，以確認(rèn)所有分析物記憶效應(yīng)都低于合約檢測(cè)限CRDL。
To identify or confirm the maximum concentration of an analyte that does not cause a memory effect greater than the contract required detection limit (CRDL). The test solutions are not analyzed directly; equal volumes of the two are mixed and then introduced into the instrument for a normal sample exposure time. A blank is then run to confirm that all analyte memory effects are below the CRDL.

關(guān)鍵詞：質(zhì)譜儀

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