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HAG-2000基準(zhǔn)級(jí)光澤度儀

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產(chǎn)品簡(jiǎn)介

主要特點(diǎn)

詳細(xì)介紹

HAG-2000是實(shí)現(xiàn)基準(zhǔn)級(jí)光澤度和相對(duì)測(cè)量的科學(xué)級(jí)儀器，主要用于光澤度標(biāo)準(zhǔn)板檢定，光澤標(biāo)準(zhǔn)數(shù)據(jù)量值傳遞。可精確測(cè)量20°、45°、60°、75°、85°的光澤度值，以及鏡面反射率分布曲線。測(cè)量方式避免了相對(duì)測(cè)量中因標(biāo)準(zhǔn)板和被測(cè)板鏡面反射率空間分布差異所導(dǎo)致的測(cè)量誤差，測(cè)量更加可靠，系統(tǒng)角度精度高、測(cè)量重復(fù)性好。

主要特點(diǎn)

● 光澤度測(cè)量不確定度U≤0.7，(k=3)，滿足JJG 2069光澤度基準(zhǔn)要求；

● 光澤度和相對(duì)測(cè)量可選；

● 采用精密對(duì)準(zhǔn)裝置實(shí)現(xiàn)角度精確定位，角度精度高達(dá)0.01；

● 探測(cè)器接收立體角符合ISO，ASTM，GB，TAPPI, JIS等國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)的測(cè)量幾何要求，精確接收鏡面反射光；

● 光源與探測(cè)器通過(guò)濾色片精確匹配CIE C光源和CIE光視效率函數(shù)V（λ）；

● 掃描各角度的反射率分布曲線，還可以比較標(biāo)準(zhǔn)和被測(cè)樣品的表面分布差異。