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200kV場(chǎng)發(fā)射透射電子顯微鏡

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產(chǎn)品型號(hào)JEM-2100F

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更新時(shí)間：2023-01-24 08:38:13瀏覽次數(shù)：363次

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日立電子掃描顯微鏡

日本電子掃描顯微鏡

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產(chǎn)品簡(jiǎn)介

儀器簡(jiǎn)介：JEM-2100F應(yīng)用廣泛，從材料科學(xué)、生命科學(xué)、醫(yī)療、制藥、半導(dǎo)體到納米技術(shù)

詳細(xì)介紹

儀器簡(jiǎn)介：
JEM-2100F 應(yīng)用廣泛，從材料科學(xué)、生命科學(xué)、醫(yī)療、制藥、半導(dǎo)體到納米技術(shù)。

利用200kV場(chǎng)發(fā)射透射電鏡JEM-2100F，不僅可實(shí)現(xiàn)超高分辨率圖像的觀察，同時(shí)，還可以得到納米尺度的結(jié)構(gòu)、成分等信息。
高亮度的場(chǎng)發(fā)射電子槍?zhuān)p松實(shí)現(xiàn)各種分析功能。

JEM-2100F設(shè)計(jì)的側(cè)插式側(cè)角臺(tái)，在傾斜、旋轉(zhuǎn)、加熱、制冷時(shí)都不會(huì)造成機(jī)械飄移。

SJEM-2100F可與TEM, MDS, EDS, EELS, and CCD-camera實(shí)現(xiàn)一體化控制。

技術(shù)參數(shù)：
1.點(diǎn)分辨率：0.19nm
2.線分辨率：0.14nm
3.加速電壓：80, 100, 120, 160, 200kV
4.傾斜角：25
5.STEM分辨率：0.20nm

主要特點(diǎn)：
1.高亮度場(chǎng)發(fā)射電子槍。
2.束斑尺寸小于0.5nm。
3.新式側(cè)插測(cè)角臺(tái)，更容易傾轉(zhuǎn)、旋轉(zhuǎn)、加熱和冷凍，無(wú)機(jī)械飄移。
4.穩(wěn)定性好、操作簡(jiǎn)便。
5.微處理器和PC兩套系統(tǒng)控制，防止死機(jī)。