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聯(lián)系我時(shí),請告知來自 環(huán)保在線美國TSI 掃描電遷移率粒徑譜儀SMPS-3938
美國TSI 掃描電遷移率粒徑譜儀SMPS-3938
產(chǎn)品介紹:
TSI的掃描電遷移率粒徑譜儀廣泛用于測量空氣中的顆粒尺寸分布的標(biāo)準(zhǔn)。這一系統(tǒng)也經(jīng)常用來使懸浮在液體中的顆粒尺寸的測量精度。美國國家標(biāo)準(zhǔn)與技術(shù)研究所(-NIST)使用一個(gè)TSID Ma尺寸為60nm和100nm的標(biāo)準(zhǔn)尺寸的參考材料。掃描電遷移率粒徑譜儀是一個(gè)精確地粒徑檢測技術(shù),沒有假設(shè)顆粒的形狀粒度分布而直接測量數(shù)濃度。該方法是獨(dú)立的顆?;蛄黧w的折射率,并具有高度的尺寸精度和測量重復(fù)性。
特點(diǎn)和優(yōu)點(diǎn)
◎高分辨率數(shù)據(jù):多達(dá)167個(gè)通道;
◎廣泛的尺寸范圍:從2.5nm到1000nm;
◎ISO15900:2009兼容;
◎快速測量:<10秒掃描;
◎?qū)挼臐舛确秶鷥?nèi),107particles/cm3;
◎的靈活性組件的設(shè)計(jì);
◎無需電腦的操作,觸摸屏控制;
◎易于安裝與不安裝工具和自動(dòng)發(fā)現(xiàn)部件;
◎離散粒子測量:適用于多模樣本;
◎獨(dú)立的顆粒和流體的光學(xué)性質(zhì);
◎?qū)挿秶南到y(tǒng)的選擇:水或丁醇計(jì)數(shù)器供選擇;傳統(tǒng)的或非放射性中和器的選擇。
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