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Carl Zeiss 電子顯微鏡

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更新時間：2023-12-19 15:58:47瀏覽次數(shù)：179次

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產(chǎn)品簡介

關(guān)鍵字：Carl Zeiss 電子顯微鏡Crossbeam 350
關(guān)鍵字描述：
產(chǎn)品介紹：
無需耗時搜索ROI即可開始工作流程
使用氣閘上的導(dǎo)航攝像頭找到標本
集成的用戶界面使您可以輕松導(dǎo)航到ROI

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天津瑞利光電科技有限公司優(yōu)勢經(jīng)銷Carl Zeiss 電子顯微鏡Crossbeam 350
產(chǎn)品型號：Crossbeam 350
關(guān)鍵字：Carl Zeiss 電子顯微鏡Crossbeam 350
關(guān)鍵字描述：
產(chǎn)品介紹：
無需耗時搜索ROI即可開始工作流程
使用氣閘上的導(dǎo)航攝像頭找到標本
集成的用戶界面使您可以輕松導(dǎo)航到ROI
受益于SEM中大而無失真的視野
銅樣品的薄片準備好提升
通過簡單的三步流程開始準備：ASP
定義配方包括漂移校正，沉積和粗銑和精磨
FIB色譜柱的離子光學系統(tǒng)可實現(xiàn)工作流程的高通量
復(fù)制配方并根據(jù)需要重復(fù)以開始批量準備
蔡司Crossbeam的TEM薄片制備工作流程的一部分
帶上顯微操縱器并將薄片連接到其
從散裝中切出薄片
然后，薄片準備好提升并且可以轉(zhuǎn)移到TEM網(wǎng)格
使用Gemini電子光學從高分辨率SEM圖像中提取真實樣本信息。Ion-sculptor FIB色譜柱引入了一種新的FIB處理方式：通過大限度地減少樣品損傷，您可以大限度地提高樣品質(zhì)量并同時更快地進行實驗。在制備TEM樣品時，使用離子雕刻機FIB的低電壓功能：獲得超薄樣品，同時保持少量的非晶化損傷。在ZEISS Crossbeam系列中，要么利用Crossbeam 350的可變壓力功能或者使用Crossbeam 550進行苛刻的表征。
參數(shù)：
SEM：Gemini I光學，VP選項
腔室尺寸和端口標準：帶18個可配置端口
顯微鏡臺：100毫米行程范圍x / y
示例選項：Inlens SE和Inlens EsB 用于同時成像SE / EsB 成像
VPSE探測器
可變壓力功能（可選）
天津瑞利光電創(chuàng)立以來一直秉承'以誠興業(yè)，共存共榮'的經(jīng)營理念，視客戶與伙伴為摯友，視員工為公司的寶貴財富，團結(jié)一致，開拓創(chuàng)新，勇于打破行業(yè)發(fā)展瓶頸，逐步構(gòu)建并擴大公司在自動化領(lǐng)域的一體化供銷網(wǎng)絡(luò)與服務(wù)中心。'整合行業(yè) 資源，力爭行業(yè)好口碑，勇做行業(yè)發(fā)展引擎'將是瑞利人永遠的追求，我們愿與更多的用戶和國內(nèi)外品牌供應(yīng)商攜手并進，一起為國內(nèi)工業(yè)發(fā)展貢獻力量，共同發(fā)展，共同繁榮。