詳細摘要： 重疊式高壓加速老化試驗箱產(chǎn)品應用:重疊式高壓加速老化試驗箱隨著半導體可靠性的提高半導體器件能承受長期的THB試驗而不會產(chǎn)生失效，因此用來確定成品質量的測試時間也...
產(chǎn)品型號：所在地：更新時間：2023-04-28 在線留言污水處理設備 污泥處理設備 水處理過濾器 軟化水設備/除鹽設備 純凈水設備 消毒設備|加藥設備 供水/儲水/集水/排水/輔助 水處理膜 過濾器濾芯 水處理濾料 水處理劑 水處理填料 其它水處理設備
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詳細摘要： 重疊式高壓加速老化試驗箱產(chǎn)品應用:重疊式高壓加速老化試驗箱隨著半導體可靠性的提高半導體器件能承受長期的THB試驗而不會產(chǎn)生失效，因此用來確定成品質量的測試時間也...
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詳細摘要： 重疊式高壓加速老化試驗箱產(chǎn)品應用:重疊式高壓加速老化試驗箱隨著半導體可靠性的提高半導體器件能承受長期的THB試驗而不會產(chǎn)生失效，因此用來確定成品質量的測試時間也...
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詳細摘要： 重疊式高壓加速老化試驗箱產(chǎn)品應用:重疊式高壓加速老化試驗箱隨著半導體可靠性的提高半導體器件能承受長期的THB試驗而不會產(chǎn)生失效，因此用來確定成品質量的測試時間也...
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詳細摘要： hast高壓加速老化壽命試驗機產(chǎn)品應用:hast高壓加速老化壽命試驗機隨著半導體可靠性的提高半導體器件能承受長期的THB試驗而不會產(chǎn)生失效，因此用來確定成品質量...
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詳細摘要： 兩層式高壓加速老化試驗箱產(chǎn)品應用:兩層式高壓加速老化試驗箱隨著半導體可靠性的提高半導體器件能承受長期的THB試驗而不會產(chǎn)生失效，因此用來確定成品質量的測試時間也...
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詳細摘要： 氧彈老化試驗箱規(guī)格/性能：1、型號PTC-25、內(nèi)箱尺寸∮250×450D(mm)：2、型號PTC-35、內(nèi)箱尺寸∮350×500D(mm)：3、溫度范圍：RT...
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詳細摘要： 高壓加速壽命老化試驗機產(chǎn)品應用:高壓加速壽命老化試驗機隨著半導體可靠性的提高半導體器件能承受長期的THB試驗而不會產(chǎn)生失效，因此用來確定成品質量的測試時間也相應...
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詳細摘要： 401b老化試驗箱規(guī)格/性能：1、型號PTC-25、內(nèi)箱尺寸∮250×450D(mm)：2、型號PTC-35、內(nèi)箱尺寸∮350×500D(mm)：3、溫度范圍：...
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詳細摘要： 高壓加速老化壽命試驗機產(chǎn)品應用:高壓加速老化壽命試驗機隨著半導體可靠性的提高半導體器件能承受長期的THB試驗而不會產(chǎn)生失效，因此用來確定成品質量的測試時間也相應...
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詳細摘要： 人工加速老化試驗箱產(chǎn)品應用:人工加速老化試驗箱隨著半導體可靠性的提高半導體器件能承受長期的THB試驗而不會產(chǎn)生失效，因此用來確定成品質量的測試時間也相應增加了許...
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詳細摘要： hast高壓加速老化試驗機價格產(chǎn)品應用:hast高壓加速老化試驗機價格隨著半導體可靠性的提高半導體器件能承受長期的THB試驗而不會產(chǎn)生失效，因此用來確定成品質量...
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詳細摘要： 蒸氣老化試驗箱產(chǎn)品應用:蒸氣老化試驗箱隨著半導體可靠性的提高半導體器件能承受長期的THB試驗而不會產(chǎn)生失效，因此用來確定成品質量的測試時間也相應增加了許多
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詳細摘要： hast加速老化箱產(chǎn)品應用:hast加速老化箱隨著半導體可靠性的提高半導體器件能承受長期的THB試驗而不會產(chǎn)生失效，因此用來確定成品質量的測試時間也相應增加了許...
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詳細摘要： 高度加速壽命試驗箱產(chǎn)品應用:高度加速壽命試驗箱隨著半導體可靠性的提高半導體器件能承受長期的THB試驗而不會產(chǎn)生失效，因此用來確定成品質量的測試時間也相應增加了許...
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詳細摘要： 高溫高壓蒸煮儀用途:高溫高壓蒸煮儀適用于國防、航天、汽車部件、電子零配件、塑膠、磁鐵行業(yè)、制藥線路板，多層線路板、IC、LCD、磁鐵、燈飾、照明制品等產(chǎn)品之密封...
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詳細摘要： led加速老化試驗箱內(nèi)外箱均采用304不銹鋼板，圓型內(nèi)箱，不銹鋼圓型試驗內(nèi)箱結構，符合工業(yè)安全容器標準，可防止試驗中結露滴水設計
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詳細摘要： hast高度加速壽命試驗箱加速壽命試驗的目的是提高環(huán)境應力(如：溫度)與工作應力(施加給產(chǎn)品的電壓、負荷.等)，加快試驗過程，縮短產(chǎn)品或系統(tǒng)的壽命試驗時間
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詳細摘要： hast壽命試驗箱加速壽命試驗的目的是提高環(huán)境應力(如：溫度)與工作應力(施加給產(chǎn)品的電壓、負荷.等)，加快試驗過程，縮短產(chǎn)品或系統(tǒng)的壽命試驗時間
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