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K-AlphaX 射線光電子能譜儀（XPS）系統(tǒng)

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更新時(shí)間：2023-11-20 10:54:32瀏覽次數(shù)：214次

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產(chǎn)品簡(jiǎn)介

X 射線光電子能譜儀（XPS）系統(tǒng)K-Alpha 光譜儀的光譜分析性能大大提升。這個(gè)巨大的進(jìn)步可實(shí)現(xiàn)更快的分析、更好的元素檢測(cè)以及獲得更高分辨率的數(shù)據(jù)以實(shí)現(xiàn)更好的化學(xué)狀態(tài)鑒定。

詳細(xì)介紹

分析選項(xiàng)包括革命性的復(fù)合型離子源、一個(gè)用于將空氣敏感樣品從手套箱轉(zhuǎn)移到系統(tǒng)的真空傳遞模塊，以及用于收集 ARXPS 數(shù)據(jù)的傾斜模塊。配備 Thermo Scientific™ Avantage 數(shù)據(jù)系統(tǒng)（全面的表面分析軟件系統(tǒng)），K-Alpha+ 具有一系列的軟件功能，專為優(yōu)化數(shù)據(jù)解讀、數(shù)據(jù)報(bào)告和可用性而設(shè)計(jì)。K-Alpha XPS 系統(tǒng)可滿足經(jīng)驗(yàn)豐富的 XPS 分析員和新手的要求，將高性能單色化 XPS 和濺射深度剖析與智能自動(dòng)化和直觀控制結(jié)合在一起。

強(qiáng)大的性能

可選面積能譜分析

濺射深度剖析

微聚焦單色器

快照采集

高分辨率化學(xué)狀態(tài)能譜分析

絕緣樣品分析

定量化學(xué)成像

無(wú)以倫比的易用性

采集——能譜、圖像、剖析、線掃描

解讀—— 元素和化學(xué)狀態(tài)鑒定

處理—— 定量、分峰擬合、實(shí)時(shí)剖析顯示、能譜圖像處理、PCA、相分析、TFA、NLLSF、PSF 扣除、光學(xué)/XPS 圖像疊加