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HJS-A絕緣材料的介質(zhì)損耗自動(dòng)測(cè)量?jī)x

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HJS-A絕緣材料的介質(zhì)損耗自動(dòng)測(cè)量?jī)x高頻介質(zhì)損耗(介電常數(shù))測(cè)試系統(tǒng)由HJS-I型高頻Q表、AS916測(cè)試裝置（夾具）、數(shù)據(jù)采集和tan自動(dòng)測(cè)量控件（裝入HJS-I型高頻Q表軟件模塊)、及HLKI-1型電感器組,液體杯(可選,用于測(cè)試液態(tài)材料)組成

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HJS-A絕緣材料的介質(zhì)損耗自動(dòng)測(cè)量?jī)x

高頻介質(zhì)損耗(介電常數(shù))測(cè)試系統(tǒng)由HJS-I型高頻Q表、AS916測(cè)試裝置（夾具）、數(shù)據(jù)采集和tanδ自動(dòng)測(cè)量控件（裝入HJS-I型高頻Q表軟件模塊)、及HLKI-1型電感器組, 液體杯(可選,用于測(cè)試液態(tài)材料)組成。

高頻介質(zhì)損耗(介電常數(shù))測(cè)試系統(tǒng)依據(jù)國(guó)標(biāo)GB/T 1409-2006、GB/T 1693-2007、美標(biāo)ASTM D150以及國(guó)際電工委員會(huì)IEC60250的規(guī)定設(shè)計(jì)制作。系統(tǒng)提供了絕緣材料的高頻介質(zhì)損耗角正切值(tanδ)和介電常數(shù)(ε)自動(dòng)測(cè)量的解決方案。

高頻介質(zhì)損耗(介電常數(shù))測(cè)試系統(tǒng)配置方案如下表:

主機(jī)	HJS-I高頻Q表
測(cè)試裝置	AS916
HLKI-1型電感器組	9個(gè)
試驗(yàn)液體杯	可選

HJS-A+AS916+HLKI-1電感組配置及參數(shù):

測(cè)試頻率范圍	10KHz-70MHz, LCD顯示,6位有效數(shù) ,DDS數(shù)字合成
Q值測(cè)量范圍	1～1000四位數(shù)顯，±0.1Q分辨率
可調(diào)電容范圍	28～490pF 0.1pF分辨率
電容測(cè)量誤差	±0.5%±0.5pF
Q表殘余電感值	約20nH
AS916測(cè)試裝置	屏幕5位數(shù)顯，極片為φ38和φ50二選一,支持液體杯測(cè)試, 液體杯測(cè)試極片為φ38
數(shù)據(jù)采集和tanδ自動(dòng)測(cè)量控件	支持