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CAMECA 場(chǎng)發(fā)射電子探針 SXFiveFE

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產(chǎn)品簡(jiǎn)介

自1958年開(kāi)創(chuàng)電子探針微量分析以來(lái)，CAMECA已發(fā)布了幾代產(chǎn)品，所有這些產(chǎn)品都被證明具有出色的分析性能和可靠性

詳細(xì)介紹

自1958年開(kāi)創(chuàng)電子探針微量分析以來(lái)，CAMECA已發(fā)布了幾代產(chǎn)品，所有這些產(chǎn)品都被證明具有出色的分析性能和可靠性。新SXFive-TACTIS以此為基礎(chǔ)，在用戶(hù)友好的環(huán)境中提供增強(qiáng)的成像和定量分析性能。

初學(xué)者/專(zhuān)家雙界面 - 適用于多用戶(hù)環(huán)境
SXFive-TACTIS雙界面設(shè)計(jì)，充分利用一個(gè)工具服務(wù)于不同的用戶(hù)-。在初學(xué)者模式下，通過(guò)直觀的觸摸屏界面，可以輕松進(jìn)行儀器配置、操作以及基本的成像和數(shù)據(jù)處理。在專(zhuān)家模式下，該界面專(zhuān)為熟練用戶(hù)設(shè)計(jì)，他們可以訪問(wèn)不同的工具參數(shù)和軟件選項(xiàng)。

增強(qiáng)的BSE成像，特別是在低電壓下尤其明顯
SXFive-TACTIS配備了一個(gè)額外的BSE探測(cè)器，特別是在超低電壓下，可提供的圖像質(zhì)量（5 kV時(shí)的空間分辨率為15 nm或更好）。這種新型BSE低kV探測(cè)器使您能夠快速、準(zhǔn)確地識(shí)別樣品中感興趣的區(qū)域，從而充分利用功能強(qiáng)大的FE-EPMA，更好的檢測(cè)痕量元素。

集成的EDS超映射
SXFive-TACTIS配有一個(gè)集成的電子色散譜儀超映射模塊，可以更快、更輕松地進(jìn)行數(shù)據(jù)處理和分析。使用新EDS HyperMap模塊，您可以收集每個(gè)像素的完整EDS光譜并同時(shí)提取定量結(jié)果。

EPMA觸手可及
憑借其、創(chuàng)新的觸摸屏界面以及許多其他高效和易用的增強(qiáng)功能，SXFive-TACTIS使EPMA可觸摸控制，同時(shí)具有出色的分析性能、分辨率或靈敏度。

“X Live"功能允許一鍵采集實(shí)時(shí)WDS和EDS X射線(xiàn)圖像，以復(fù)合或疊加模式快速生成而有用的樣品成分概覽

完整的遠(yuǎn)程控制，包括SEM成像、允許用戶(hù)從他們的智能手機(jī)、平板電腦或遠(yuǎn)程計(jì)算機(jī)上運(yùn)行實(shí)驗(yàn)。

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