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三維光學(xué)輪廓儀Contour Elite X

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更新時(shí)間：2024-02-21 14:30:02瀏覽次數(shù)：175次

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產(chǎn)品簡(jiǎn)介

可靠光學(xué)測(cè)量，通知可量化的研發(fā)和QA/QC決定。真色、成像揭示以前隱藏的微觀細(xì)節(jié)。柔韌、分期和固定，根據(jù)您的具體樣本和應(yīng)用情況量身定做。

詳細(xì)介紹

自動(dòng)化Contour Elite X三維光學(xué)剖面儀結(jié)合了****的測(cè)量能力，在業(yè)界*大的視野和高保真度彩色或單色成像的*高垂直分辨率。沒(méi)有任何其他計(jì)量系統(tǒng)提供非接觸式精度、吞吐量、操作人員方便和成像能力來(lái)解決如此廣泛的生產(chǎn)計(jì)量應(yīng)用。為滿(mǎn)足*苛刻的研發(fā)、質(zhì)量保證和過(guò)程質(zhì)量控制需求而設(shè)計(jì)，Contour Elite X提供了*終的量具能力三維光學(xué)剖面解決方案。

彩色成像與計(jì)量相結(jié)合

額外的高保真彩色成像，一家側(cè)照明和**的算法，使等Contour Elite X用戶(hù)訪問(wèn)額外的視角，無(wú)法提供的系統(tǒng)，單獨(dú)提供計(jì)量學(xué)，以及提供可識(shí)別的表面特征細(xì)節(jié)的報(bào)告能力。這使用戶(hù)能夠根據(jù)顏色或灰度信息分割數(shù)據(jù)，以快速選擇感興趣的區(qū)域，并從這些特定區(qū)域收集關(guān)鍵的計(jì)量數(shù)據(jù)。將優(yōu)異計(jì)量學(xué)與觀察、識(shí)別和顯示測(cè)量結(jié)果的能力結(jié)合起來(lái)，不僅對(duì)于理解數(shù)據(jù)，而且對(duì)于交流結(jié)果，都是非常重要的。

*佳橫向和縱向分辨率

Contour Elite X系統(tǒng)擁有*好的組合橫向和縱向分辨率超過(guò)行業(yè)的*大視野，有一個(gè)亞納米到大于10毫米的垂直范圍。它包括研發(fā)100獎(jiǎng)的針灸XR測(cè)量技術(shù)，它提供了打破衍射極限在您的光學(xué)測(cè)量。此外，該系統(tǒng)還可以使用一個(gè)百萬(wàn)像素的相機(jī)來(lái)提高X-Y空間分辨率.從1倍到115倍的大視場(chǎng)和客觀放大使得能夠描述極其廣泛的表面形狀和紋理。

快速無(wú)損成像

Contour Elite X型剖析器是一個(gè)非接觸系統(tǒng)與一個(gè)大的舞臺(tái)，使您的樣本或部分完整和未損壞。我們的*利白光干涉測(cè)量(WLI)技術(shù)獲得高度數(shù)據(jù)的亞納米精度，是獨(dú)立于放大使用。這意味著，即使在一毫米范圍內(nèi)采樣超過(guò)一百萬(wàn)個(gè)數(shù)據(jù)點(diǎn)--平方圖像區(qū)域，用戶(hù)也能夠在幾秒鐘內(nèi)收集到高分辨率的高度數(shù)據(jù)。