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動(dòng)態(tài)參數(shù)測(cè)試系統(tǒng)的產(chǎn)品研發(fā)#技術(shù)新聞

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產(chǎn)品簡(jiǎn)介

簡(jiǎn)要描述： ITC57300動(dòng)態(tài)參數(shù)測(cè)試系統(tǒng);可在絕緣柵雙晶體管（IGBT），功率MOSFET，二管和其他雙器件之類的半導(dǎo)體器件上執(zhí)行無損瞬態(tài)測(cè)量.

詳細(xì)介紹

本公司5月10日13點(diǎn)49分報(bào)道：ITC57300動(dòng)態(tài)參數(shù)測(cè)試系統(tǒng)的產(chǎn)品研發(fā)#技術(shù)新聞

（/c96719/products/d.html）

產(chǎn)品描述

ITC57300動(dòng)態(tài)參數(shù)測(cè)試系統(tǒng)主機(jī)接受測(cè)試頭，這些測(cè)試頭可在諸如絕緣柵雙晶體管（IGBT），功率MOSFET，二管和其他雙器件之類的半導(dǎo)體器件上執(zhí)行無損瞬態(tài)測(cè)量（需要其他可選的偏置電源和定制個(gè)性化板）。大型機(jī)中包括分析和執(zhí)行電阻和電感開關(guān)時(shí)間，開關(guān)損耗，柵電荷，Trr / Qrr和其他瞬態(tài)測(cè)試所需的所有測(cè)試設(shè)備和軟件。

為特定類型的瞬態(tài)測(cè)試設(shè)計(jì)的測(cè)試頭與主機(jī)上的特殊測(cè)試頭接收器配對(duì)。盡管測(cè)試頭只能執(zhí)行一項(xiàng)特定的測(cè)試，但每個(gè)測(cè)試頭中的個(gè)性化板都會(huì)針對(duì)特定的設(shè)備，設(shè)備封裝和各種設(shè)備電路布置重新配置測(cè)試頭。

測(cè)試頭

•ITC57210-N和P溝道功率MOSFET的R開關(guān)時(shí)間，MIL-STD-750，方法3472

•ITC57220-功率MOSFET和二管的Trr / Qrr，MIL-STD-750，方法3473

•ITC57230-功率MOSFET的柵電荷，MIL-STD-750，方法3471

•ITC57240 IGBT的電感性開關(guān)時(shí)間，MIL-STD 750，方法3477

•ITC57250短路（Isc）耐受時(shí)間，MIL-STD 750，方法3479

•ITC57260-功率MOSFET的柵電阻（Rg），輸入電容（Ciss），輸出電容（Coss）和反向電容（Crss），JEDEC標(biāo)準(zhǔn)JESD24-11

相關(guān)關(guān)鍵詞：示波器，力科示波器，泰克示波器，安捷倫示波器，是德示波器，數(shù)字示波器，示波器，網(wǎng)絡(luò)分析儀，信號(hào)分析儀，信號(hào)發(fā)生器，矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀，頻譜分析儀，晶體管圖示儀，直流電源，可編程直流電源，半導(dǎo)體測(cè)試系統(tǒng)，協(xié)議分析儀，藍(lán)牙協(xié)議分析儀，以太網(wǎng)測(cè)試系統(tǒng)，邏輯分析儀，阻抗分析儀，電磁場(chǎng)強(qiáng)測(cè)試儀，電磁波場(chǎng)強(qiáng)分析儀，是德頻譜分析儀，安捷倫信號(hào)分析儀，函數(shù)發(fā)生器，任意波形發(fā)生器，矢量信號(hào)發(fā)生器，安捷倫網(wǎng)絡(luò)分析儀，半導(dǎo)體測(cè)試儀，半導(dǎo)體特性分析系統(tǒng)，功率器件分析儀，動(dòng)態(tài)參數(shù)測(cè)試系統(tǒng)，星群模擬器系統(tǒng)，GNSS模擬器，無線通信測(cè)試儀，綜合測(cè)試儀，無線測(cè)試儀，網(wǎng)絡(luò)測(cè)試儀，USB協(xié)議分析儀，力議分析儀，SATA協(xié)議分析儀，以太網(wǎng)協(xié)議分析儀，精密阻抗分析儀，精密型LCR表，阻抗分析儀，穩(wěn)科阻抗分析儀，程控直流電源，直流電源分析儀，雙通道直流電源，數(shù)字萬用表，力科邏輯分析儀，WIFI6測(cè)試系統(tǒng)，示波器探頭，電機(jī)驅(qū)動(dòng)分析儀，串行數(shù)據(jù)分析儀，磁盤驅(qū)動(dòng)分析儀，安規(guī)測(cè)試儀，耐壓測(cè)試儀，耐壓測(cè)試分析儀