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更新時間：2023-06-16 20:05:41瀏覽次數(shù)：105次
聯(lián)系我時，請告知來自 環(huán)保在線北京吉天儀器有限公司主營：原子熒光光度計(jì),流動注射分析儀ICP光譜儀的優(yōu)點(diǎn)1.檢出限低
北京吉天儀器有限公司主營：原子熒光光度計(jì),流動注射分析儀
ICP光譜儀的優(yōu)點(diǎn)
1. 檢出限低。 一般可達(dá)～1ug·g-1，值可達(dá)10-8～10-9g。用電感耦合等離子體(icp)新光源，檢出限可低至 數(shù)量級。
2. 用icp光源時，準(zhǔn)確度高，標(biāo)準(zhǔn)曲線的線性范圍寬，可達(dá)4～6個數(shù)量級?？赏瑫r測定高、中、低含量的不同元素。因此icp-aes已廣泛應(yīng)用于各個領(lǐng)域之中。
3. 樣品消耗少，適于整批樣品的多組分測定，尤其是定性分析更顯示出的優(yōu)勢。
ICP光譜儀是什么構(gòu)成的？
一臺典型的ICP光譜儀主要由一個光學(xué)平臺和一個檢測系統(tǒng)組成。包括以下幾個主要部分：
1. 入射狹縫: 在入射光的照射下形成光譜儀成像系統(tǒng)的物點(diǎn)。
2. 準(zhǔn)直元件: 使狹縫發(fā)出的光線變?yōu)槠叫泄?。該?zhǔn)直元件可以是一獨(dú)立的透鏡、反射鏡、或直接集成在色散元件上，如凹面光柵光譜儀中的凹面光柵。
3. 色散元件: 通常采用光柵，使光信號在空間上按波長分散成為多條光束。
4. 聚焦元件: 聚焦色散后的光束，使其在焦平面上形成一系列入射狹縫的像，其中每一像點(diǎn)對應(yīng)于一特定波長。
5. 探測器陣列：放置于焦平面，用于測量各波長像點(diǎn)的光強(qiáng)度。該探測器陣列可以是CCD陣列或其它種類的光探測器陣列。
ICP光譜儀的校正
光學(xué)系統(tǒng)校正
在PROFILE儀器中，操作軟件自動控制儀器每30分鐘快速校正、每2小時校正光學(xué)系統(tǒng)。如果實(shí)驗(yàn)室環(huán)境溫度變化較大，不能保證工作條件，可能造成測量結(jié)果數(shù)據(jù)漂移。
光學(xué)系統(tǒng)校正使用燈，選擇Hg8線（波長），儀器內(nèi)部裝有燈，只要按照操作規(guī)程操作即可。
等離子體位置校正
等離子體位置校正的目的是將光源對準(zhǔn)光學(xué)系統(tǒng)。通常在重新裝配進(jìn)樣系統(tǒng)后，點(diǎn)燃等離子體，用Mn溶液（10ug/mL）校正。
在等離子體位置校正過程中，值得注意的是：確保選中Mn 波長、Mn溶液能夠正常進(jìn)入并形成氣溶膠進(jìn)入等離子體。如果上述條件沒有滿足，可能造成校正失敗。
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