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穩(wěn)態(tài)熱反射熱傳導(dǎo)系數(shù)儀

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產(chǎn)品簡(jiǎn)介

■產(chǎn)品說明穩(wěn)態(tài)熱反射測(cè)試法將基于雷射熱反射的技術(shù)（TDTR、FDTR）與穩(wěn)態(tài)熱傳導(dǎo)技術(shù)結(jié)合再一起，進(jìn)行快速、小尺度的穩(wěn)態(tài)量測(cè)

詳細(xì)介紹

■ 產(chǎn)品說明
穩(wěn)態(tài)熱反射測(cè)試法將基于雷射熱反射的技術(shù)（TDTR、FDTR）與穩(wěn)態(tài)熱傳導(dǎo)技術(shù)結(jié)合再一起，進(jìn)行快速、小尺度的穩(wěn)態(tài)量測(cè)。

寬廣的熱傳導(dǎo)系數(shù)測(cè)試范圍從0.05W/mＫ ~ 2500W/mＫ，SSTR-F甚至能測(cè)試小至幾百微米的樣品。透過光纖組件和雷射的系統(tǒng)提供便利的使用，可選配的FDTR測(cè)量模塊量測(cè)徑向、橫向的熱傳導(dǎo)，以及材料邊界熱阻抗。搭配自動(dòng)平臺(tái)可以做到100mm的熱傳導(dǎo)分布圖。

SSTR-F是由弗吉尼亞大學(xué)ExSiTE 實(shí)驗(yàn)室Professor Patrick Hopkins 開發(fā)。
For paper reference: A steady-state thermoreflectance method to measure thermal conductivity - Review of Scientific Instruments 90, 024905 (2019); https://doi.org/10.1063/1.5056182

FDTR
適用材料	固體、液體
熱傳導(dǎo)范圍	0.05 to 2500W/mk
熱點(diǎn)尺寸	>100um
溫度范圍	80K to 600K
精確度	5%
再現(xiàn)性	2%
熱傳導(dǎo)范圍	0.05 to 2500W/mk
量測(cè)方向	厚度方向、平面方向
薄膜厚度	>5nm