質(zhì)譜儀直測(cè)試分析配件

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更新時(shí)間：2023-03-17 12:52:51瀏覽次數(shù)：183次

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一般質(zhì)譜離子化分別有「大氣下離子化」及「真空下離子化」，質(zhì)譜儀的前處理通常較為麻煩與困難

詳細(xì)介紹

一般質(zhì)譜離子化分別有「大氣下離子化」及「真空下離子化」，質(zhì)譜儀的前處理通常較為麻煩與困難。
DART技術(shù)將前處理變得更直接容易，可直接將式樣拿來(lái)分析。液體、固體與粉末都可直接分析在大氣下離子化。結(jié)合Accu TOF (高解析飛行質(zhì)譜儀) 可得到精確數(shù)據(jù)。

DART的限制：
1. 主要測(cè)試小分子，不適合用在大分子。 (ex: DNA脫氧核醣核酸、 Protein蛋白質(zhì))
2. 無(wú)法離子化金屬

TOF+DART 特點(diǎn)：
1. 非接觸樣品分析, 直接放在DART分析
2. 需要最少樣品測(cè)試
3. 可以取代ESI，APCI等離子源
4. 高分辨率
5. 寬廣分子量范圍分析
6. 同位素容易分析
7. 分析非?？焖?br> 8. 對(duì)于難處理或復(fù)雜樣品很適合
9. 可以串聯(lián)TLC/MS，LC/MS
10. 大氣下可以分析氣體，固體，液體
11. 不需溶劑及高壓氣體
12. 可迅速分析定性及定量