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GDS-80系列晶振π網(wǎng)絡(luò)分析儀

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GDS-80系列晶振π網(wǎng)絡(luò)分析儀一、產(chǎn)品簡(jiǎn)介晶振π網(wǎng)絡(luò)分析儀GDS-80系列是高性價(jià)比的晶振測(cè)試系統(tǒng)，采用網(wǎng)絡(luò)分析技術(shù)，實(shí)現(xiàn)智能化測(cè)量，符合IEC-444標(biāo)準(zhǔn)

詳細(xì)介紹

GDS-80系列晶振π網(wǎng)絡(luò)分析儀
一、產(chǎn)品簡(jiǎn)介

晶振π網(wǎng)絡(luò)分析儀GDS-80系列是高性價(jià)比的晶振測(cè)試系統(tǒng)，采用網(wǎng)絡(luò)分析技術(shù)，實(shí)現(xiàn)智能化測(cè)量，符合IEC-444標(biāo)準(zhǔn)。測(cè)量頻率范圍1MHz-100MHz，可選配RS-232接口進(jìn)行數(shù)據(jù)通迅。

晶振π網(wǎng)絡(luò)分析儀GDS-80系列采用π型網(wǎng)絡(luò)零相位法實(shí)現(xiàn)串聯(lián)諧振頻率的測(cè)量，采用直接阻抗法來測(cè)試負(fù)載諧振頻率和負(fù)載電容，它測(cè)量精度高，速度快。具有串聯(lián)諧振頻率、負(fù)載諧振頻率（PPM值）、串聯(lián)諧振電阻、負(fù)載諧振電阻、靜電容等參數(shù)測(cè)量功能，負(fù)載電容在1-100P范圍內(nèi)任意編程設(shè)置，從滿足不同負(fù)載電容的晶振測(cè)試，智能網(wǎng)絡(luò)分析技術(shù)運(yùn)算克服了市場(chǎng)上晶振測(cè)試設(shè)備使用實(shí)體電容法測(cè)試精度差，無法測(cè)試電參數(shù)的缺點(diǎn)、解除了手工校對(duì)的麻煩，讓晶振測(cè)試變得更輕松。

依據(jù)標(biāo)準(zhǔn)：

SJ/Z 9154.1-87 IEC 444-1(1989)《用π型網(wǎng)絡(luò)零相位法測(cè)量石英晶體元件參數(shù)部分：用π型網(wǎng)絡(luò)零相位法測(cè)量石英晶體元件諧振頻率和諧振電阻的基本方法》；

SJ/Z 9154.2-87 IEC 444-2(1980)《用π型網(wǎng)絡(luò)零相位法測(cè)量石英晶體元件參數(shù)第二部分測(cè)量石英晶體元件動(dòng)態(tài)電容的相位偏置法》；

GB∕T22319.11-2018《石英晶體元件參數(shù)的測(cè)量第11部分：采用自動(dòng)網(wǎng)絡(luò)分析技術(shù)和誤差校正確定負(fù)載諧振頻率和有效負(fù)載電容的標(biāo)準(zhǔn)方法》；