應力篩選復合試驗箱對不同電子構件，在實際使用環(huán)境中遭遇的溫度條件，改變環(huán)境溫差范圍及急促升降溫度改變，可以提供更為嚴格測試環(huán)境，縮短測試時間，降低測試費用，但是必須要注意可能對材料測試造成額外的影響，產(chǎn)生非使用狀態(tài)的破壞試驗。(需把握在失敗機制依然未受影響的條件下)RAMP試驗條件標示為：Temperature Cycling 或Temperature Cycling Test也就是溫度循環(huán)(可控......

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應力篩選復合試驗箱對不同電子構件，在實際使用環(huán)境中遭遇的溫度條件，改變環(huán)境溫差范圍及急促升降溫度改變，可以提供更為嚴格測試環(huán)境，縮短測試時間，降低測試費用，但是必須要注意可能對材料測試造成額外的影響，產(chǎn)生非使用狀態(tài)的破壞試驗。(需把握在失敗機制依然未受影響的條件下)RAMP試驗條件標示為：Temperature Cycling 或Temperature Cycling Test也就是溫度循環(huán)(可控制斜率的溫度沖擊)。

應力篩選復合試驗箱規(guī)格：測試方法：應力篩選標準//三箱法標準//兩箱法標準

? 型號		SER-A	SER-B	SER-C	SER-D	SER-G
內部尺寸 (W x D x H cm)		40×35×35	50×50×40	60×50×50	70×60×60	80×70×60
外部尺寸 (W x D x H cm)		140×165×180	150×190×185	160×190×185	170×240×195	180×260×200
結構		三箱式（預冷箱）（預熱箱）（測試箱）
預熱溫度范圍		+60～+220℃（約50min）
預冷溫度范圍		+20℃～-75℃（約70min）
溫度恢復時間		小于15分鐘
溫度均勻度		≤2℃
溫度波動度		≤±0.5℃，按GB/T5170-1996表示
溫度偏差		±2℃
應力篩選溫度范圍		-40℃～+125℃/-55℃～+125℃
應力篩選溫度速率		等均溫5℃～40℃/min（在樣品上測量）
（三想法）（兩箱法）	高溫暴露	+60～+150℃
	低溫暴露	-40℃～0℃/ -55℃～0℃/ -65℃～0℃
	控制器	中文彩色觸摸屏+ PLC控制器（控制軟件自行開發(fā)）
	控制方式	靠積分飽和PID，模糊算法平衡式調溫P.I.D + P.W.M + S.S.R
冷卻方式		水冷（水溫7℃～28℃，水壓0.1～0.3Mpa），以便確保降溫性能
電源電壓		AC380V 50Hz三相四線+接地線