該系統(tǒng)特點：用調制光代替直流光，以減少雜散光、噪聲等對測量精度的影響；用錐腔型熱釋電探測器代替熱電堆探測器作為參考探測器，用鎖相測量儀器代替直流測量儀器并增加溫度控制，以便提高測量系統(tǒng)的靈敏度和光譜響應度標準的平坦程度，進而提高準確度；以雙單色儀代替單色儀，大大減少雜散光；同時增加了光譜響應度的定標。該系統(tǒng)可以靈活地根據(jù)客戶需求進行變形，組合。可以完成例如太陽能電池IPCE測試，光電器件光譜響應度分析等實驗。
標準系統(tǒng)組成：
太陽能電池量子效率QE/ IPCE介紹：
太陽能電池量子效率QE (Quantum efficiency)和太陽能電池IPCE(Incident Photon to Charge Carrier Efficiency)表示入射到太陽能電池表面的光子數(shù)目與太陽能電池產生的電荷載流子數(shù)目比率。太陽能電池量子效率QE (Quantum efficiency)測試是對太陽能電池外部效率的測量，而太陽能電池IPCE(Incident Photon to Charge Carrier Efficiency)測試是對太陽能電池內部效率的測試，也就是說太陽能電池表面反射的光子是不被考慮的。
太陽能電池量子效率QE/ IPCE測試在太陽能電池材料研究和太陽能電池設計中非常關鍵特殊，因為，對于太陽能電池，在太陽光譜組成分布較強的光譜位置上具有光譜響應是極其重要的。該太陽能電池量子效率QE/ IPCE測試設備是以光源和光譜學前沿技術為基礎的，所以，您可以信任它的專業(yè)測試準確性。
準確測試太陽能電池量子效率QE/ IPCE的關鍵是確定照射到待測太陽能電池上的單色光的強度大小和太陽能電池產生的電流大小。我們所提供的都是最重要的太陽能電池量子效率QE/ IPCE測試部件，在這些太陽能電池量子效率QE/ IPCE測試部件的基礎上，用戶可以很快的完成太陽能電池量子效率QE/ IPCE測試實驗。
系統(tǒng)簡介:
本系統(tǒng)用于測量太陽電池光譜響應度（A/W），其測量原理是通過光源從單色儀出射的單色光，分別照射在被測硅探測器（如太陽電池，染料敏化太陽能電池、光電二極管等）與標準硅探測器上，然后測量它們的短路電流，再比較電流值的方法得出光譜響應度。其中標準硅探測器光譜響應度數(shù)據(jù)由中國傳遞而來。
該套裝置搭建以后，可實現(xiàn)對單色儀狹縫，波長調整，對鎖相放大器(或弱電流計)檔位調整，時間常數(shù)調整，數(shù)據(jù)測量，數(shù)據(jù)曲線實時顯示，數(shù)據(jù)結果處理，詳細功能可根據(jù)用戶特殊需要定制，3年內軟件免費升級維護）。
本套系統(tǒng)可用于測量(300~1100)nm波長范圍，測量不確定度<5%（k＝2）（400-1100）nm
系統(tǒng)主要原理圖:
1．交流測量法（可測量f微弱電流信號）
2．直流測量法（可測量p微弱電流信號）
系統(tǒng)的組成:
1、光源
（1）型號：CHF-XM500（氙燈）電功率500W，多級聚焦，發(fā)射波長范圍：200-2500nm，總光功率：10W（2）鹵素燈及直流電源，用于（800－1600）nm，波長平坦，功率250W。
2、單色儀
型號：omni3005，參數(shù)：焦距300mm、分辨率0.1nm、機械掃描范圍：0-1200nm、波長精度：0.2nm（添加近紅外光柵(700-2000)nm）。
3、光學系統(tǒng)
由2塊凸透鏡和濾光片輪組成。
4、標準紫外探測器
硅探測器3只（日本濱松，其中1只用于， 2只用于備用）
型號：S1337。
5、自動控制系統(tǒng)及軟件
包括單色儀控制，測量儀表讀數(shù)，數(shù)據(jù)比對，處理等，VB程序。
6、測量儀表(交流和直流測量法)
鎖相放大器型號：SR830
雙相數(shù)字式，
1mHz—102kHz頻率范圍
100dB動態(tài)儲備（不加前置濾波器）
自動增益，自動相位，自動動態(tài)儲備
10s—30ks時間常數(shù)
6，12，18，24dB/倍頻程衰減速率
諧波檢測（2F，3F…nF）
GPIB，RS—232接口
調制器型號：SR540
具有電壓控制輸入，四位數(shù)字頻率顯示，十段頻率控制，和兩種可選工作模式的參考輸出。
4Hz—3.7kHz斬波頻率
單光束和雙光束調制
低相位抖動
和頻和差頻參考信號輸出
測量儀表(直流測量法)
Keithley 6517A
主要特點及優(yōu)點:
電阻測量可達1016Ω
電流測量范圍1fA-20mA
最小電流量程輸入壓降<20μＶ
200TΩ輸入阻抗
<3fA偏置電流
高達125rdgs/s
噪聲0.75fA p-p
內置±1kV電源
的高電阻測量電壓反接方法
可選的插件式掃描卡
7、光學平臺（可選）
國產，1.2M*1.8M，鋼制。由光學暗室、旋轉轉臺、控制器和一維調節(jié)座（3只）組成。
