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IPCE量子效率測(cè)試系統(tǒng)

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產(chǎn)品型號(hào)Modulab Photoechem

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更新時(shí)間：2024-09-15 10:06:59瀏覽次數(shù)：348次

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阿美特克商貿(mào)（上海）有限公司科學(xué)儀器部普林斯頓及輸力強(qiáng)電化學(xué)

經(jīng)營(yíng)模式：生產(chǎn)廠家

商鋪產(chǎn)品：36條

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聯(lián)系人：烏小姐（經(jīng)理）

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產(chǎn)品簡(jiǎn)介

Modulab XM Photoechem是一套可完整表征染料敏化和鈣鈦礦等電池的整體集成式光學(xué)測(cè)試系統(tǒng)。而且該體系可用于可見光譜-光電化學(xué)領(lǐng)域的研究，例如，氧化鐵催化光解水等。Solartron Analytical作為超過(guò)二十年的行業(yè)*，認(rèn)識(shí)到許多儀器使用者對(duì)儀器技術(shù)本身并不很熟悉，因此推出此產(chǎn)品的核心理念是對(duì)海量數(shù)據(jù)的分析實(shí)現(xiàn)“一鍵式"操作，研發(fā)并提供綜合成套的技術(shù)解決方案。

詳細(xì)介紹

該系統(tǒng)具有以下特點(diǎn)：

頻域和時(shí)域的測(cè)試技術(shù)，包括：IMPS，IMVS，阻抗，

光電壓衰減，電量抽取和I-V曲線

對(duì)有效擴(kuò)散系數(shù)的計(jì)算和電子壽命的“自動(dòng)”數(shù)據(jù)分析

的“一鍵式”操作，適合于對(duì)頻域測(cè)試技術(shù)比較陌生的使用者。

帶有NIST(美國(guó)標(biāo)準(zhǔn)與技術(shù)研究院測(cè)試標(biāo)準(zhǔn))可追溯

校準(zhǔn)文件的光源，并且日?？梢詫?duì)其進(jìn)行校驗(yàn)檢查

*穩(wěn)定的熱效管理的光源

提供一系列的高亮度單色LED光源

軟件包含全套電化學(xué)測(cè)試技術(shù)，包括：循環(huán)伏安(C-V)，

恒電壓-電流測(cè)試，系列的阻抗測(cè)試方法以及交流伏安法

輔助分壓功能可用于同時(shí)檢測(cè)陽(yáng)極和陰極的阻抗和電壓

Solartron Analytical的頻率響應(yīng)分析（FRA）技術(shù)，包含

單波，頻率掃描和多波技術(shù)

*兼容ModuLab 和 ModuLab XM全部功能

不僅是一個(gè)光電化學(xué)測(cè)試體系

ModuLab Photoehem集合了功能強(qiáng)大的ModuLab頻率響應(yīng)分析（FRA）和恒電位儀技術(shù)?，F(xiàn)有Modulab 系統(tǒng)通過(guò)配備選項(xiàng)卡和光學(xué)工作臺(tái)即可升級(jí)為ModuLab XM Photoechem。

豐富的電化學(xué)測(cè)試軟件包括：

循環(huán)伏安（階梯和線性掃描）

電位階躍法

常規(guī)和差分脈沖

電位控制/電流控制阻抗（單波或多波/快速傅立葉轉(zhuǎn)換分析）

交流伏安

控制光學(xué)平臺(tái)進(jìn)行以上測(cè)試技術(shù)可以使研究人員開發(fā)出更多DSSC的測(cè)試技術(shù)。

關(guān)鍵詞：恒電位儀工作臺(tái) 光學(xué)平臺(tái)