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上海標(biāo)譽(yù)精密儀器有限公司
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上海標(biāo)譽(yù)精密儀器有限公司
閱讀：65發(fā)布時間：2022-1-14
對于汽車制造商和汽車零部件供應(yīng)商來說，在整個工作流程中快速獲得準(zhǔn)確可靠的清潔度分析結(jié)果將會是一項巨大的優(yōu)勢。在進(jìn)行這項質(zhì)量控制任務(wù)時，通常要使用來自多家廠商的多種儀器來進(jìn)行分析。因此，Pall 公司和徠卡公司共同努力，攜手推出來自“單一來源"的成套清潔度分析解決方案?？蛻艨梢詮恼w解決方案中獲得優(yōu)勢，同時得到來自徠卡和 PALL 專家們的建議，從而實現(xiàn)流程優(yōu)化，并得以持續(xù)保持。
徠卡DM4 M&徠卡DM6 M正置工業(yè)測量顯微鏡作為清潔度檢測顯微鏡不僅可滿足快快速概覽樣品和詳細(xì)檢查樣品的需求，*，可靠的記憶功能可即時復(fù)制成像參數(shù)，輕松搞定重復(fù)性工作
在汽車和運(yùn)輸、微電子、制造和醫(yī)療器械等行業(yè)中，產(chǎn)品及其組件的性能和使用壽命非常容易受到污染的影響。
徠卡 DM6 M LIBS 材料分析解決方案 (參考圖 1) 等二合一解決方案將光學(xué)顯微術(shù) (目視分析) 和激光誘導(dǎo)擊穿光譜 (LIBS) (化學(xué)分析) 相結(jié)合。與掃描電鏡檢查法 (SEM) 和能量色散譜 (EDS) 等其他方法進(jìn)行比較，在高效清潔度分析中占據(jù)著優(yōu)勢。
查找和消除污染源更輕松
對于技術(shù)清潔度，最終目標(biāo)是查找和消除污染源。二合一解決方案可以用更少的時間和精力識別污染源，因為清潔度分析流程得到了簡化。
與使用掃描電鏡檢查法 (SEM) 和能量色散譜 (EDS) 進(jìn)行分析的不同之處在于:
> 無需樣品制備；
> 無需將樣品從一個設(shè)備傳輸?shù)搅硪粋€設(shè)備；
> 無需在濾片上重新定位感興趣區(qū)域，也無需進(jìn)行系統(tǒng)調(diào)節(jié)；
> 無需損失等待真空的時間 (分析始終在大氣條件下的空氣中進(jìn)行)
“二合一法"解決方案:顆粒成像和構(gòu)成分析
以下圖 2 所示為使用徠卡 DM6 M LIBS 解決方案對濾片上的顆粒進(jìn)行可視和化學(xué)分析的示例。
圖 2：使用 DM6 M LIBS 二合一解決方案執(zhí)行清潔度分析:
A) 檢測、統(tǒng)計和測量濾片上的顆粒；
B) 如果是金屬顆粒，選擇適當(dāng)?shù)膶Ρ榷确椒梢钥吹筋w粒的反射光；
C) 激光追蹤 ( 紅色十字準(zhǔn)線) 濾片上檢測到的顆粒，以運(yùn)用 LIBS 進(jìn)行化學(xué)分析；
D) 來自 LIBS 的元素譜清楚地表明該顆粒由鋁 (Al) 組成。
雙重高效的總體清潔度工作流程
對于整個清潔度工作流程，往往要使用多個供應(yīng)商提供的多種儀器來執(zhí)行顆粒提取和分析。從顆粒提取到分析，在整個流程中使用來自“單一源"的一種清潔度解決方案更加方便。徠卡公司和 Pall 公司共同努力為汽車和運(yùn)輸行業(yè)提供了這樣一種*而全面的清潔度解決方案。您可在下面的圖 3 中看到使用 Pall 清洗柜和徠卡 DM6 M LIBS 二合一解決方案的整體清潔度工作流程。
整套解決方案的優(yōu)勢在于更容易達(dá)到清潔度分析的最終目標(biāo):：
> 測定顆粒導(dǎo)致?lián)p壞的潛在可能性；
> 找到并消除對產(chǎn)品性能和使用壽命構(gòu)成嚴(yán)重威脅的污染源。
圖 3：符合 VDA19 且有效的汽車行業(yè)整體清潔度工作流程：
從濾片顆粒提取和保留 （Pall 清洗柜） 到可視和化學(xué)分析（徠卡 DM6 M LIBS 二合一解決方案）。
目標(biāo)旨在更快地找到危險顆粒污染源并消除它們。
清潔度分析流程 – 步驟
制備方法取決于零件或組件類型以及要分析的樣品大小。根據(jù)零件特性和樣品大小最終確定解決方案。
通過噴涂、清洗或超聲波處理等方式，從零部件中提取污染物顆粒。隨后，讓清潔溶液流經(jīng)過濾器 (過濾器類型取決于清潔的部件)，顆粒則會留在薄膜上用于分析。PALL 提供不同規(guī)格的清洗柜和過濾器可用于過濾處理步驟。經(jīng)過干燥后，對過濾器進(jìn)行評估。
根據(jù)顆粒大小和類型，對其進(jìn)行檢測、定量和分類，判斷其可能引起的潛在破壞性。使用復(fù)合或數(shù)字顯微鏡和清潔度軟件模塊，同時借助徠卡清潔度檢測顯微鏡分析解決方案完成這些任務(wù)。
仔細(xì)復(fù)查分析結(jié)果，確定是否存在任何具有潛在破壞性的顆粒。金屬顆粒的潛在破壞性更高，而徠卡成像解決方案能夠自動識別金屬顆粒。這些具有潛在破壞性的顆粒會影響組件的使用壽命，甚至還會導(dǎo)致系統(tǒng)故障。
借助全面清潔度分析得到的結(jié)果，使工作流程逐步得到優(yōu)化。然后識別具有潛在破壞性的顆粒，確定并消除污染源。在清潔度檢測顯微鏡分析下，目標(biāo)在于不斷改進(jìn)清潔度分析過程，進(jìn)而消除和減少污染。
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