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XDV -SDD - 高性能X射線熒光測(cè)試儀測(cè)厚儀

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更新時(shí)間：2023-09-17 09:30:42瀏覽次數(shù)：293次

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青島東方嘉儀電子科技有限公司

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產(chǎn)品簡(jiǎn)介

可自動(dòng)測(cè)量超薄鍍層和分析痕量元素

詳細(xì)介紹

高性能X射線熒光測(cè)試儀，粉末涂層測(cè)厚儀，配有可編程XY平臺(tái)和Z軸，油漆測(cè)厚儀，可自動(dòng)測(cè)量超薄鍍層和分析痕量元素

高級(jí)型號(hào)儀器，機(jī)械式涂層測(cè)厚儀，具有常見(jiàn)的所有功能
射線激發(fā)量的靈活性，覆層測(cè)厚儀，激發(fā)量可根據(jù)測(cè)量面積大小和光譜組成而改變
通過(guò)硅漂移探測(cè)器，非鐵基涂料涂層測(cè)厚儀，在 > 10萬(wàn)cps（每秒計(jì)數(shù)率）的超高信號(hào)量下也可以正常工作，非鐵基涂層測(cè)厚儀，而不會(huì)出現(xiàn)能量分辨率的降低
極低的檢測(cè)下限和出色的測(cè)量重復(fù)度
帶有快速、可編程 XY 工作臺(tái)的自動(dòng)測(cè)量?jī)x器
大容量便于操作的測(cè)量艙

測(cè)量極薄的鍍層，筆式涂層測(cè)厚儀，例如應(yīng)用于電子和半導(dǎo)體行業(yè)中
痕量分析，mpo 涂層測(cè)厚儀，例如根據(jù) RoHS、玩具標(biāo)準(zhǔn)、包裝標(biāo)準(zhǔn)對(duì)有害物質(zhì)進(jìn)行檢測(cè)
進(jìn)行高精度的黃金和貴金屬分析
光伏產(chǎn)業(yè)
測(cè)量 NiP 鍍層的厚度和成分