葉面積測量儀YMJ-B

功能特點(diǎn)： 
1.主機(jī)、探頭一體化設(shè)計(jì)，更方便操作 
2.采用微電腦技術(shù)，LCD液晶顯示 
3.高性能充電鋰電池，無需外部供電，低電壓顯示，更于野外測量 
4.一次性可測量較大葉片面積（2000mm×213mm） 
▲5.可存儲5000組數(shù)據(jù)（葉面積、葉長、葉寬） 
6.可測量葉片的多種參數(shù)：葉面積、平均葉面積、葉長、葉寬、長寬比 
▲7.儀器內(nèi)部自帶時間，日期功能，可隨時測量數(shù)據(jù)保存測量時間，利于查詢。 
8.可在主機(jī)上查詢歷史數(shù)據(jù)。 
▲9.通訊接口：USB接口，可將數(shù)據(jù)導(dǎo)入計(jì)算機(jī)。 
1、可將存儲記錄的數(shù)據(jù)已EXCEL格式備份保存，用以查看分析。 
2、數(shù)據(jù)報(bào)表、圖形報(bào)表均可選擇時段進(jìn)行查詢查看，并可通過計(jì)算機(jī)打印。 
3、圖形可進(jìn)行放大、縮小操作，并可進(jìn)行平均值計(jì)算，也可導(dǎo)成BMP格式進(jìn)行保存。 
葉面積測量儀YMJ-B技術(shù)參數(shù)： 
▲測量參數(shù)：葉面積、平均葉面積、葉長、葉寬、長寬比 
測量單位：毫米，平方毫米 
▲測量精度：±2% 
測量精度：0.1mm 
▲大測量長度：2000mm 
大測量寬度：213mm 
大測量厚度：3mm 
主機(jī)數(shù)據(jù)存儲：5000組 
電壓：3.7V

產(chǎn)品名稱：差示掃描量熱儀 產(chǎn)品型號： DSC-50

差示掃描量熱儀 DSC-5 0 
  產(chǎn)品介紹: 
差示掃描量熱儀為觸摸屏式，可進(jìn)行玻璃化轉(zhuǎn)變溫度測試、相轉(zhuǎn)變測試、熔融和熱焓值測試、產(chǎn)品穩(wěn)定性、氧化誘導(dǎo)期測試。 
  
符合標(biāo)準(zhǔn)： 
  GB/T 19466. – 004/ISO 11357- :1999 第   部分：玻璃化轉(zhuǎn)變溫度的測定 
  GB/T 19466.3– 004/ISO 11357-3:1999 第 3 部分：熔融和結(jié)晶溫度及熱焓的測定 
  GB/T 19466.6- 009/ISO 11357-3:1999 第 6 部分：氧化誘導(dǎo)時間和氧化誘導(dǎo)溫度的測定 
  
技術(shù)參數(shù): 
1. 溫度范圍: 室溫~500℃ 
2 . 溫度分辨率: 0.01℃ 
3. 溫度波動: ±0.1℃ 
4. 溫度重復(fù)性: ±0.1℃ 
5. 升溫速率: 0.1～100℃/min 
6. 恒溫時間：建議＜ 4h 
7. 控溫方式：升溫，恒溫（全自動程序控制） 
8. DSC 量程: 0～±600mW 
9. DSC 解析度: 0.01mW 
10. DSC 靈敏度: 0.01mW 
11. 工作電源: AC 0V/50Hz 或定制 
12. 氣氛控制氣體：氮?dú)?、氧氣（儀器自動切換） 
13. 氣體流量：0-300mL/min 
14. 氣體壓力：0. MPa 
15. 顯示方式:  4bit 色，8 寸 LCD 觸摸屏顯示 
16. 數(shù)據(jù)接口：標(biāo)準(zhǔn) USB 接口 
17. 參數(shù)標(biāo)準(zhǔn): 配有標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)（銦，錫，鋅），用戶可自行校正溫度 
技術(shù)特點(diǎn): 
1. 工業(yè)級別的 8 寸觸摸屏，顯示信息豐富。 
 . 可拆卸內(nèi)置爐體設(shè)計(jì)，模塊化設(shè)計(jì)，改善了安裝工藝，用戶可自行更換爐體。 
3. USB 通訊接口，通用性強(qiáng)，通信可靠不中斷，支持自恢復(fù)連接功能。 
4. 標(biāo)配雙溫度探頭，保證樣品溫度測量的高度重復(fù)性。 
5. 自動切換兩路氣氛流量，切換速度快，穩(wěn)定時間短。同時增加一路保護(hù)氣體輸入。 
6. 軟件簡單易操作。

產(chǎn)品名稱：平面光帶檢測儀 平面光帶檢測儀  產(chǎn)品型號：JC-008

平面光帶檢測儀 平面光帶檢測儀 型號：JC-008
用途： 
機(jī)械密封件、光學(xué)零件、高級平臺、平板、導(dǎo)軌等高精度平面零件的平面檢測。 
功率：20W 電源：220V/50Hz 燈源照射 
  
平面平晶規(guī)格φ60*20mm φ80*20mm φ100*25mm 
φ150mm以上屬非標(biāo)立品需訂做 
  
平面平晶產(chǎn)品特點(diǎn) 
*平面平晶是以光波干涉原理為基礎(chǔ)，利用平晶的測量面與試件的被測量面之間所出現(xiàn)的干涉條紋來 
測量被測量面的平面度。 
*平面平晶用于檢定量塊的研合性和平面度以儀器和量具的測量面、工作面的平面度。亦可用于檢定 
高精度的平面零件，例如，平面光學(xué)零件、高級平臺、平板、導(dǎo)軌、密封件等。平面平晶特別于 
計(jì)量單位、實(shí)驗(yàn)室作為標(biāo)準(zhǔn)平面和樣板。