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當前位置：深圳市偉峰儀器儀表有限公司>>技術文章>>ST-21H型方塊電阻測試儀
| ST-21H型方塊電阻測試儀是一種依照類似的國家標準和美國A.S.T.M標準，專門測量半導體薄層電阻(表面電阻)的新型儀器，可用于測量一般半導體材料、導電薄膜(ITO透明氧化膜)，金屬薄膜……等同類物質的薄層電阻。 | |||||||||||||||||||||||||
| 該儀器以大規(guī)模集成電路為主要核心；用基準電源和運算放大器組成高精度穩(wěn)流源；帶回路有效正常指示電路；并配以大型LCD顯示讀數，使儀器具有體積小、重量輕、外形美、易操作、測量速度快、精度高的特點。 | |||||||||||||||||||||||||
| ◆ 特點： | |||||||||||||||||||||||||
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| ◆ 技術指標： | |||||||||||||||||||||||||
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| ◆ ST-21H方塊電阻測試儀可選配HP系列四探針探頭的型號及規(guī)格： | |||||||||||||||||||||||||
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| ◆ ST-21H方塊電阻測試儀可選配SP-601型方型四探針探頭的型號及規(guī)格： | |||||||||||||||||||||||||
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