芯片三輪往復(fù)循環(huán)測(cè)試儀根據(jù)Master 卡CQM項(xiàng)目對(duì)卡進(jìn)行三輪測(cè)試，適用于對(duì)識(shí)別卡、帶觸點(diǎn)的集成電路卡進(jìn)行三輪往復(fù)循環(huán)測(cè)試。將芯片卡放在機(jī)器測(cè)試滾輪之間，將芯片在三個(gè)鋼制滾輪間循環(huán)測(cè)試100次，芯片前方滾動(dòng)50次，芯片后方滾動(dòng)50次，循環(huán)頻率為0.5Hz，并在芯片上加一個(gè)8N的力，經(jīng)過(guò)往復(fù)循環(huán)測(cè)試后驗(yàn)證ICC觸點(diǎn)芯片功能是否正常。測(cè)試儀配有額外的一個(gè)15N砝碼用于進(jìn)行CQM標(biāo)準(zhǔn)*的測(cè)試。

詳細(xì)介紹

芯片三輪測(cè)試儀報(bào)價(jià)，芯片三輪往復(fù)循環(huán)測(cè)試儀資料，芯片三輪檢測(cè)儀供應(yīng)商，上海芯片三輪測(cè)試儀、芯片三往復(fù)循環(huán)輪試驗(yàn)機(jī)

詳情請(qǐng)咨詢(xún)優(yōu)鴻測(cè)控技術(shù)（上海）有限公司，：，楊

一、芯片三輪往復(fù)循環(huán)測(cè)試儀介紹：

楊 UHICC主機(jī)外型美觀，性能穩(wěn)定，質(zhì)量可靠；根據(jù)Master 卡CQM項(xiàng)目對(duì)卡進(jìn)行三輪測(cè)試，適用于對(duì)識(shí)別卡、帶觸點(diǎn)的集成電路卡進(jìn)行三輪往復(fù)循環(huán)測(cè)試。

二、技術(shù)參數(shù)：

1、三輪測(cè)試儀型號(hào)：UHICC
2、測(cè)試輪循環(huán)次數(shù)：前后循環(huán)各50次
3、測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)參考: Mcd
4、CQM測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)參考: P-22
5、測(cè)試方法參考: 10.3.22
6、CQM: 6.1.11-12.1.5.2 -16.1.18.2
7、電源: 110-220 V 50/60 Hz.
8、測(cè)試廠家：優(yōu)鴻測(cè)控技術(shù)

測(cè)試方法：將芯片卡放在機(jī)器測(cè)試滾輪之間，將芯片在三個(gè)鋼制滾輪間循環(huán)測(cè)試100次，芯片前方滾動(dòng)50次，芯片后方滾動(dòng)50次，循環(huán)頻率為0.5Hz，并在芯片上加一個(gè)8N的力，經(jīng)過(guò)往復(fù)循環(huán)測(cè)試后驗(yàn)證ICC觸點(diǎn)芯片功能是否正常。測(cè)試儀配有額外的一個(gè)15N砝碼用于進(jìn)行CQM標(biāo)準(zhǔn)*的測(cè)試。

關(guān)鍵詞：芯片試驗(yàn)機(jī)