該投影儀適用于對(duì)金屬材料擺錘沖擊試樣缺口的分析測(cè)試。通過其特定的電子光學(xué)采樣系統(tǒng)對(duì)沖擊試樣缺口形貌進(jìn)行全視野實(shí)時(shí)采樣，可完成對(duì)擺錘沖擊試樣V形缺口深度、缺口角度、缺口底部半徑的自動(dòng)測(cè)定。操作方便，準(zhǔn)確率高，并能進(jìn)行以往手工不能完成的操作，可自動(dòng)判斷結(jié)果。儲(chǔ)存的結(jié)果數(shù)據(jù)可供用戶進(jìn)行反復(fù)核對(duì)處理。

詳細(xì)介紹

一、設(shè)備名稱：全自動(dòng)缺口投影儀

二、全自動(dòng)缺口投影儀功能：

該產(chǎn)品適用于對(duì)金屬材料擺錘沖擊試樣缺口的分析工作。通過其特定的電子光學(xué)采樣系統(tǒng)對(duì)沖擊試樣缺口形貌進(jìn)行全視野實(shí)時(shí)采樣，可完成對(duì)擺錘沖擊試樣V形缺口深度、缺口角度、缺口底部半徑的自動(dòng)測(cè)定。操作方便，準(zhǔn)確率高，并能進(jìn)行以往手工不能完成的操作，可自動(dòng)判斷結(jié)果。儲(chǔ)存的結(jié)果數(shù)據(jù)可供用戶進(jìn)行反復(fù)核對(duì)處理。

三、主要標(biāo)準(zhǔn)：

1 , GB/T 229-2007 金屬夏比沖擊缺口試驗(yàn)方法

四、原理：

光源發(fā)出的光線投射到載樣臺(tái)上的試樣，經(jīng)過鏡頭在CMOS成像單元上形成試樣缺口輪廓，經(jīng)由采集卡傳輸?shù)絇C，再由Faultarea-UV分析軟件計(jì)算出缺口深度、缺口角度、缺口根部半徑的數(shù)值，以確定被檢測(cè)的試樣缺口是否符合標(biāo)準(zhǔn)要求；

五、技術(shù)參數(shù)：

1）光學(xué)系統(tǒng)：整體支架保持水平，可調(diào)節(jié)物鏡，高壽命低功率穩(wěn)定光源。

2）CCD圖像攝像頭：圖像傳感器為不小于1/2英寸，象素?cái)?shù)為 130萬。

3）操作系統(tǒng)：WINDOWS 98,XP，2000等。

5）分辨率不低于0.005mm

6）能自動(dòng)測(cè)量擺錘試樣缺口深度、缺口角度、缺口底部半徑。

7）可保存試樣分析結(jié)果

8）計(jì)算機(jī)自動(dòng)計(jì)算試樣分析結(jié)果，可打印試驗(yàn)報(bào)告。（由乙方提供試驗(yàn)報(bào)告格式）

9）外型尺寸： 150mm×150mm×400mm（長(zhǎng)×寬×高）

10）總功率：5W

12）電源：5V USB供電

13）環(huán)境條件：周圍環(huán)境無腐蝕介質(zhì)，無震動(dòng)，無強(qiáng)電磁場(chǎng)干擾．