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Dynamic Bending Tester

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更新時(shí)間：2022-07-12 14:52:11瀏覽次數(shù)：617次

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  IC卡三輪測(cè)試儀

電子標(biāo)簽測(cè)試儀

電子標(biāo)簽彎曲扭曲性能綜合測(cè)試裝置

IC卡三輪測(cè)試儀

IC卡動(dòng)態(tài)彎扭試驗(yàn)機(jī)

IC卡彎扭檢測(cè)儀

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  優(yōu)鴻

優(yōu)鴻測(cè)控技術(shù)（上海）有限公司

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產(chǎn)品簡(jiǎn)介

Dynamic Bending Tester

詳細(xì)介紹

Dynamic Bending Tester

The Dynamic Bending Tester is designed to simultaneously test 5 cards in accordance with ISO 10373-1. IC cards are expected to remain functional after a total of 2000 bending cycles – and 4000 cycles without breaking apart. The P-13 can also be set to any user defined number of cycles. Automatically stops test once number of test cycles selected is reached.

·Power: 110-220V 50-60Hz.

·Standard Ref: ISO 7810, 10373-1

·CQM Test Ref: P-13

·Test Method: CQM 10.3.13

· CQM §: 5.1.13, 6.1.11 16.1.18.1

Skype：yhcksh :yhck_sh :