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我國引進*納米離子探針通過驗收
我國引進的*臺NanoSIMS 50L型納米離子探針驗收會于近日在中國科學(xué)院地質(zhì)于地球物理研究所召開。中國科學(xué)院地質(zhì)于地球物理研究所副所長吳福元研究員為組長的專家組認(rèn)真聽取了法國CAMECA公司納米離子探針設(shè)計師、François Hillion博士所作的驗收報告。專家組對儀器的驗收指標(biāo)有關(guān)問題進行了提問，一致認(rèn)為該儀器的技術(shù)參數(shù)不僅全部達(dá)到合同要求，大部分還優(yōu)于合同要求的驗收指標(biāo)。
納米離子探針具有*的空間分辨率（Cs+源束斑小于 50nm，O-源束斑小于200nm），與我所已有的CAMECA ims 280高精度離子探針互補，構(gòu)成上非常先進的的離子探針分析平臺。新引進的NanoSIMS 50L型納米離子探針配置了7個信號檢測器（每個配置法拉第杯和電子倍增器），可以同時測量7個同位素（或元素），分析精度好于千分之一。該儀器可以分析除稀有氣體以外，元素周期表中從H至U的全部同位素（元素），并能獲取同位素分布的高分辨圖像。納米離子探針的引進，為我國比較行星學(xué)、地球科學(xué)、材料科學(xué)、以及生命科學(xué)等領(lǐng)域提供了新的大型實驗分析平臺。
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