LKTC--2001涂層測厚儀的使用說明及應用范圍

一、儀器特點

LKTC系列涂層測厚儀是的結(jié)晶，采用微機技術(shù)，精度高，數(shù)字顯示，示值穩(wěn)定，功耗低，操作方便，無校正旋鈕，單探頭全量程測量，體積小，重量輕，且具有存儲、讀出、統(tǒng)計、低電壓指示等功能，其性能達到同類儀器的*水平。

二、應用范圍

本儀器采用磁性測厚法，可以方便無損的測量鐵磁性材料上的非磁性材料涂層的厚度，如鋼鐵表面上的鋅、銅、鉻等鍍層或油漆、搪瓷、玻璃鋼、噴塑、瀝青等涂層的厚度。該儀器廣泛應用于機械、汽車、造船、石油、化工、電鍍、噴塑、搪瓷、塑料等行業(yè)。

三、工作原理

LKTC系列涂層測厚儀采用電磁感應法測量涂層的厚度。位于部件表面的探頭產(chǎn)生一個閉合的磁回路，隨著探頭與鐵磁性材料間的距離的改變，該磁回路將不同程度的閉合，引起磁阻及探頭線圈電感的變化。利用這一原理可以地測量探頭與鐵磁性材料的距離，即涂層厚度。

四、技術(shù)參數(shù)

LKTC--2001涂層測厚儀的使用說明及應用范圍

注意：臨界厚度小于工件鐵基厚度大于1mm時，其膜層厚度的測量不受鐵基厚度影響。

第二章  應用方法

LKTC--2001涂層測厚儀的使用說明及應用范圍

一、開機前的準備

打開電池倉蓋，把1節(jié)5#電池裝入電池倉，電池正負極對正并壓緊彈簧，壓好電池倉蓋。電池倉蓋前的“舌頭”須先插入電池倉前下方的小方孔內(nèi)，壓下并稍后退再向前推緊。

二、開機與關(guān)機

（1）把機殼上端蓋左側(cè)的電源開關(guān)打開（右邊是開），開始工作1～2秒后液晶屏順序顯示儀器現(xiàn)行校正樣片的序號和標準公稱值（上3位為序號，下4位為標稱值）。并伴有聲（蜂鳴器）、光（指示燈）指示。其后液晶屏下4位顯示“8888”，此時儀器自檢。數(shù)秒后液晶屏上3位顯示“1--”，表示儀器自檢完畢，可進行測量或校正了。

（2）儀器停止使用時須關(guān)上開關(guān)（左邊 方向）。

三、儀器主要功能

（1）校正一利用標準試片校正

用戶可每日或每班校正一次。亦可在使用中發(fā)現(xiàn)測量偏差較大時校正。

本儀器有一片長方形鐵基和1#～5#五片標準試片。利用該鐵基和標準試片可對儀器校正。用此鐵基進行的校正可檢測儀器正常工作與否，或校正后測量精度要求不太嚴格的工作。

對下述情況需用戶自制鐵基：a.測量精度要求甚高；b.材質(zhì)（或?qū)Т怕剩┡c本儀器鐵基相差甚遠；c.工作幾何形狀復雜；d.工作厚度在2㎜以下。

用下述方法自制鐵基：a.用與被測工件厚度相同、材質(zhì)相同的鋼材做成方形或圓形鐵基，要求表面平整光潔、無涂層或銹蝕，尺寸不小于本儀器所備鐵基尺寸；b.用已清除污物、表面光潔、無涂層的工件毛坯作鐵基。以同種工件毛坯作鐵基正是的方法。

儀器開機、自檢后，液晶上三位顯示“1--”，下四位顯示“8888”。穩(wěn)定3～5分鐘之后，即可校正。

校正必須按下列次序，不得跳越：

開機→校零（校鐵基）→校1#試片→校2#試片

校5#試片←校4#試片←校3#試片

校正時一定要注意液晶屏上三位所指示試片號碼。指示號與所校號碼不對號，就校錯了，測量值就不準。只有校得準，才能測得準，此事務必引起用戶重視。

校正后須對全部試片測量一遍，如發(fā)現(xiàn)校正錯誤或校正后測量偏差較大，可從頭再校。

左手按下“校”鍵，半秒鐘后抬起，液晶屏上三位顯示數(shù)按下圖循環(huán)變化：

→0000→---1→---2→---3→---4→---5

“000”表示請你校零（鐵基），“--1”表示請你校1#試片，“--2”表示請你校2#試片，…。

下面以校零與校1為例詳述操作方法。

校零：右手持探頭放在鐵基上，輕壓扶手。左手按下“CAL”鍵。儀器發(fā)出聲、光，液晶屏下四位顯示“0000”，表示校零完畢；液晶屏上三位顯示“---1”，表示可以校1#試片了。此時左手和右手握著的探頭應分別從“CAL”鍵和鐵基上拿開。

校1：將1#試片放在鐵基上，右手持探頭放在1#試片上，使探頭尖、試片中心、鐵基中心大體一致。輕壓扶手，待液晶屏下四位出現(xiàn)一測量數(shù)值后（校正前可能與該試片標準值相差較大），左手按下“CAL”鍵。稍后，儀器發(fā)出聲光，液晶屏下四位顯示試片1標準厚度值，表示校1完畢。同時，液晶屏上三位顯示---2，表示可以校2了，此時左手和右手握著的探頭應分別從“CAL”鍵和鐵基上拿開。

校2、校3、校4、校5與校1方法略同。

（2）測量.存

右手持探頭放在工件上，輕輕壓緊，液晶屏下4位顯示被測涂層厚度，并發(fā)出聲光指示。若需記存數(shù)據(jù)，應在液晶屏顯示測量值后，按一下“K”鍵方可。同時液晶屏上3位顯示記存序號。若以前未存數(shù)據(jù)，此時應顯示001，表示數(shù)據(jù)已存入；若以前已存入X個數(shù)據(jù)，此時應顯示X+1（例：已存入18，再存后顯19）。

（3）讀——在液晶屏上讀出已存測量數(shù)據(jù)

按下“R”鍵，液晶屏下4位將逐一顯示已存入的測量數(shù)據(jù)（zui多存入800個），同時上3位顯示對應的存儲序號。

若終止“R”，可按住“讀”鍵半秒后放開；再按“讀”鍵，又繼續(xù)“讀”下去。

（4）統(tǒng)計

按下“S”鍵將在液晶屏下4位逐一顯示以前記存數(shù)據(jù)的統(tǒng)計值-zui小值、平均值、zui大值。

（5）清零

按下“C”鍵記存的所有數(shù)據(jù)被清除（清零）。

四、其它功能

（1）斷電存儲：

a.斷電后儀器可長期保留當前校正參數(shù)。下次使用時，自檢完畢即可進行測量（注：若測量工作的鋼材型號、狀態(tài)、厚度、面積與上次工件差別太大，或周圍磁場有較大變化，尚須重新校正）。

b.未清零前數(shù)據(jù)可長期保存。下次開機即可進行“讀”、“統(tǒng)計”等操作。亦可繼續(xù)存入測量數(shù)據(jù)。

（2）低電壓指示：當電池電壓降至3.6V時，液晶屏左下角顯示“L”字樣，應更換電池。

五、注意事項

（1）測量曲面及圓柱體，曲率半徑較小時，應在未涂覆的工件上校準，以保證測量精度。

（2）在凹面或內(nèi)壁上測量時可拆去扶手，這時宜重新校正。

（3）為保證測量精度，校正在開機10分鐘后進行。

(4)充電：充電時充電器的燈是不亮的，充電時間為8個小時。

六、影響測量的若干因素

基體金屬磁性

磁性法測厚受基體金屬磁性變化的影響（在實際應用中，低碳鋼磁性的變化可以認為是輕微的）。為了避免熱處理、冷加工等因素的影響，應使用與試件金屬具有相同性質(zhì)的鐵基片對儀器進行校準。

基體金屬厚度

每一種儀器都有一個基體金屬的臨界厚度。大于這個厚度測量就不受基體厚度的影響。

邊緣效應

本儀器對試片表面形狀的陡變敏感。因此在靠近試片邊緣或內(nèi)轉(zhuǎn)角處進行測量是不可靠的。

曲率

試件的曲率對測量有影響，這種影響總是隨著曲率半徑的減小明顯地增大。因此不應在試件超過允許的曲率半徑的彎曲面上測量。

表面粗糙度

基體金屬和覆蓋層的表面粗糙度對測量有影響。粗糙度增大，影響增大。粗糙表面會引起系統(tǒng)誤差和偶然誤差。每次測量時，在不同位置上應增加測量的次數(shù)，以克服這種偶然誤差。如果基體金屬粗糙，還必須在未涂覆的粗糙度相類似的基體金屬試片上取幾個位置校對儀器的零點；或用沒有腐蝕性的溶液除去基體金屬覆蓋層，在校對儀器的零點。

磁場

周圍各種電氣設備所產(chǎn)生的強磁場，會嚴重地干擾磁性法測量厚度的工作。

附著物質(zhì)

本儀器對那些妨礙探頭與覆蓋層表面緊密接觸的附著物敏感。因此必須清除附著物質(zhì)，以保證探頭與覆蓋層表面直接接觸。

探頭壓力

探頭置于試件上施加的壓力的大小會影響測量的讀數(shù)。因此本儀器探頭用彈簧保持一個基本恒定的壓力。

探頭的放置

探頭的放置方式對測量的影響。在測量中，應當使探頭與試樣表面保持垂直。

試件的變形

探頭使軟覆蓋層試件變形。因此在這些試件上會測出不太可靠的數(shù)據(jù)。

讀數(shù)次數(shù)

通常儀器的每次讀數(shù)并不*相同。因此必須在每一測量面積內(nèi)取幾個讀數(shù)，覆蓋層厚度的局部差異，也要求在任一給定的面積內(nèi)進行多次測量。表面粗糙是更應如此。

第三章  維護與檢修

• 儀器應防止潮濕、過熱和接觸腐蝕性氣體和液體。
• 不可晃動或揪扯探頭線。
• 儀器應保持清潔。
• 儀器長期不用應取出電池。
• 測量不正常作下述處理：

• 查電壓是否正常；電池正負極是否接觸良好。
• 測量方法是否得當。
• 重大故障送廠或廠維修部處理。
• 用戶不得隨意拆開儀器機殼。
• 裝  箱  清  單