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GJ03-802光子相關納米粒度儀的技術資料
資料類型 | doc文件 | 資料大小 | 12800 |
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關 鍵 詞 | 納米粒度儀,納米粒度儀,納米粒度儀,納米粒度,粒度儀 |
- 【資料簡介】
GJ03-802光子相關納米粒度儀的技術資料
GJ03-802光子相關納米粒度儀是玖久儀器公司向您推薦的新一代粒度儀
儀器特點:
1.*的測試原理
該儀器采用動態(tài)光散射原理,其測試方法具有不破壞、不干擾納米顆粒體系原有狀態(tài)的特點,從而保證了測試結果的真實性和有效性;
2.高靈敏度與信噪比
核心部件采用我公司自主研制CR256數(shù)字相關器,它實時完成動態(tài)散射光強的采集和自相關函數(shù)運算,從而有效地反映不同大小顆粒的動態(tài)光 散射信息,為測試結果的準確度奠定基礎;
3.穩(wěn)定的光路系統(tǒng)
采用光纖技術搭建而成的光路系統(tǒng),使光子相關譜探測系統(tǒng)不僅體積小,而且具有很強的抗*力,從而保證了測試的穩(wěn)定性;
4.高精度恒溫控制系統(tǒng)
采用半導體溫控技術,溫控精度高達±0.2℃,使樣品在整個測試過程中始終處于恒溫狀態(tài),避免溫度變化而引起液體黏度及布朗運動速度變化導致的測試偏差,保證測試結果準確度及穩(wěn)定性。
技術參數(shù)
執(zhí)行標準
GB/T 19627-2005/ISO 13321:1996
GB/T 29022-2012/ISO 22412:2008
測試范圍1 ~ 10000nm(與樣品有關)
準確度< 1%(標準樣品平均粒徑)
重復性< 1%(標準樣品平均粒徑)
測試濃度0.1mg/ml ~ 100mg/ml(與樣品有關)
激光半導體激光器,λ= 532nm, P=30mW
探測器光電倍增管(PMT)
散射角90o
樣品池10mm×10mm×40mm, 1 ~ 4mL
測試溫度5 ~ 40 ℃
溫控精度±0.2 ℃
測試速度< 5Min
體積480mm×270mm×170mm
重量12Kg
數(shù)字相關器
規(guī)格型號CR256
自相關通道256
基線通道4
單位延遲時間100ns ~ 10ms
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