本儀器符合以下標(biāo)準(zhǔn)

GB/T 4956-1985 磁性金屬基體上非磁性覆層厚度的測(cè)量（磁性方法）

GB/T 4957-1985 非磁性金屬基體上非導(dǎo)電覆層厚度的測(cè)量（渦流方法）

JB/T 8393-1996 磁性和渦流式覆層厚度測(cè)厚儀

測(cè)量原理

a)磁性法

當(dāng)測(cè)頭與覆層接觸時(shí)，測(cè)頭與磁性金屬基體構(gòu)成一閉合磁路，由于非磁性覆層的存在，使磁路磁阻發(fā)生變化，通過測(cè)量其變化量，可測(cè)得其覆層的厚度。

b)渦流法

利用高頻交變電流線圈中產(chǎn)生一磁場(chǎng)，當(dāng)測(cè)頭與金屬接觸時(shí)，金屬基體上會(huì)產(chǎn)生渦流，并對(duì)測(cè)頭具有反饋?zhàn)饔茫ㄟ^其反饋?zhàn)饔玫拇笮】蓽y(cè)出覆層厚度。

技術(shù)參數(shù)

●     測(cè)量范圍：0-1200um

●     工作電源：兩節(jié)五號(hào)電池

●     測(cè)量精誤差：零點(diǎn)校準(zhǔn) ±（1.5+3%H）；二點(diǎn)校準(zhǔn)±【（1%～3%H）】H+1.5

●     公英制轉(zhuǎn)換：um/mil轉(zhuǎn)換

●     分辨率：0.1um/1um（100um以下為0.1um）

●     環(huán)境溫度-10-40℃

●     相對(duì)濕度≤85%

●     zui小基體10*10mm

●     zui小曲率凸5mm;凹5mm

●     zui薄基體：0.4mm

●     重量：99克（含電池）

●     尺寸102mm*66mm*24mm

儀器配置：

 1、主機(jī)                      一臺(tái)

2、標(biāo)準(zhǔn)片                                        四片
3、基體                            一塊

4、電池                           兩顆

5、說明書                         一份

6、保修卡                         一張

7、合格證                         一份