電子元器件是電子設(shè)備的重要組成部分，直接關(guān)系電子設(shè)備的運(yùn)行質(zhì)量與安全。但是，電子元器件在實(shí)際的工作中，電子元器件容易受到諸多因素的影響，會(huì)造成元器件損壞，影響電子元器件的安全。因此中科檢測(cè)開展可靠性測(cè)試，能夠協(xié)助企業(yè)在過程中發(fā)現(xiàn)問題，通過使用各種環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備模擬氣候環(huán)境中的高溫、低溫、高溫高濕以及溫度變化等情況，加速反應(yīng)產(chǎn)品在使用環(huán)境中的狀況，來驗(yàn)證其是否達(dá)到在研發(fā)、設(shè)計(jì)、制造中預(yù)期的質(zhì)量目標(biāo)，從而對(duì)產(chǎn)品整體進(jìn)行評(píng)估，以確定產(chǎn)品可靠性壽命。
電子元器件檢測(cè)范圍
| 電阻 | 電容器 | 電位器 |
| 電子管 | 電聲器件 | 光電器件 |
| 散熱器 | 機(jī)電元件 | 連接器 |
| 半導(dǎo)體分立器件 | 激光器件 | 電子顯示器件 |
| 傳感器 | 電源 | 開關(guān) |
| 微特電機(jī) | 壓電 | 電子化學(xué)材料 |
| 電子變壓器 | 繼電器 | 各類電路 |
| 晶體 | 石英 | 陶瓷磁性材料 |
電子元器件檢測(cè)項(xiàng)目
| 機(jī)械沖擊試驗(yàn) | 振動(dòng)試驗(yàn) | 正弦振動(dòng) |
| 隨機(jī)振動(dòng)試驗(yàn) | 熱沖擊試驗(yàn) | 溫度循環(huán)試驗(yàn) |
| 恒定濕熱試驗(yàn) | 高溫加速老化試驗(yàn) | 耐鹽霧試驗(yàn) |
| 氣體腐蝕試驗(yàn) | 防塵測(cè)試 | 防水測(cè)試 |
| 鹽霧腐蝕試驗(yàn) | 混合氣體腐蝕試驗(yàn) | 太陽光輻射試驗(yàn) |
| 碳弧老化試驗(yàn) | 臭氧老化試驗(yàn) | 長霉試驗(yàn) |
| 燃燒試驗(yàn) | 碰撞試驗(yàn) | 快速溫變?cè)囼?yàn) |
