SIC碳化硅器件參數(shù)測試儀-華科智源

ITC57300是美國ITC公司設(shè)計生產(chǎn)的高集成度功率半導(dǎo)體分立器件動態(tài)參數(shù)測試設(shè)備，采用測試主機(jī)+功能測試頭+個性板的測試架構(gòu)，可以滿足N溝道、P溝道器件、雙極晶體管等的各項動態(tài)參數(shù)的測試要求，且具有波形實時顯示分析功能，是目前具水平的完備可靠的動態(tài)參數(shù)測試設(shè)備。
ITC57300動態(tài)參數(shù)測試系統(tǒng)主機(jī)可執(zhí)行非破壞性的瞬態(tài)測量測試，包括對半導(dǎo)體器件絕緣柵雙極晶體管（IGBT），功率MOSFET，二極管，雙極型器件的測試頭。主機(jī)包括所有測試設(shè)備和必要的軟件分析，可執(zhí)行電阻和電感的開關(guān)時間，開關(guān)損耗，柵極電荷，TRR /的Qrr和其他瞬態(tài)測試。
ITC57300能力

• 測試電壓：大1200 VDC 200（短路電流可達(dá)1000A）
• 定時測量：為1 ns
• 漏電流限制監(jiān)視器
• -  MOSFET開關(guān)時間測試， Max VDD =1.2KV,0.1V Steps 
  -  MOSFET,Diodes Qrr/Trr反向恢復(fù)時間測試，Max VDD=1.2KV, 0.1V Steps
  -  Qrr range：1nc~100uc，Trr range：10ns~2us
  -  MOSFET柵電荷Qg測試，Max VDD =1.2KV,0.1V Steps 
  -  IGBT感性開關(guān)時間測試，Max VDD =1.2KV,0.1V Steps，Inductors range：0.1mH~159.9mH
  -  IGBT短路耐量測試，Max ISC=1000A
  測試標(biāo)準(zhǔn)： 
  - MIL-STD-750 Series

ITC57300mos管IGBT功率器件動態(tài)參數(shù)測試儀選項

• 額外的電源供應(yīng)器
• 額外的測試頭
• 大包裝適配器

ITC57300mos管IGBT功率器件動態(tài)參數(shù)測試儀測試頭

• ITC57210 - N-通道和P-通道功率MOSFET，MIL-STD-750方法3472開關(guān)時間
• ITC57220 - TRR /電源，MOSFET和二極管的Qrr，MIL-STD-750方法，3473
• ITC57230 - 柵極電荷功率MOSFET，MIL-STD-750方法3471
• ITC57240 - 電感式開關(guān)時間為IGBT，MIL-STD 750方法3477
• ITC57250 - （ISC）短路耐受時間，MIL-STD-750方法3479

ITC57300mos管IGBT功率器件動態(tài)參數(shù)測試儀系統(tǒng)特點

• 很容易改變的測試頭
• 在不同參數(shù)的自動化測試
• 堅固耐用的PC兼容計算機(jī)
• 用戶友好的菜單驅(qū)動軟件
• 可編程測試出紙槽
• 電子表格兼容的測試數(shù)據(jù)
• 可選內(nèi)部電感負(fù)載
• GPIB可編程測試設(shè)備
• 四通道高帶寬數(shù)字示波器
• 脈沖發(fā)生器
• 1200V電源

ITC57300mos管IGBT功率器件動態(tài)參數(shù)測試儀安全特性

• 測試頭高電壓互鎖
• 接收端的高電壓互鎖
• 高速漏極供電開關(guān)

 ITC57210 開關(guān)時間測試頭

此測試頭以美軍標(biāo) MIL-STD-750, Method 3472，驗證功率器件MOSFETs,P溝道和N溝道的開關(guān)時間。所測量的參數(shù)包括 ：Time Delay On [td(on)],Rise Time(tr),Time Delay Off [td(off)],Fall Time(tf)

SIC碳化硅器件參數(shù)測試儀-華科智源

首先，驅(qū)動電路中的電感電流上升，電流升到所設(shè)定的值時，電源會被切開。電感內(nèi)的的電流會通過被測器件中的二極管排放。經(jīng)過一段短時間后，驅(qū)動器再次啟動，致使器件中的二極管經(jīng)歷反向恢復(fù)動作。由此所捕捉到的波形經(jīng)過分析后便能取得反向恢復(fù)時間，電流和累積電荷等數(shù)據(jù)。

ITC57230 柵電荷測試頭

ITC57230對功率器件MOSFETs的柵電荷能力以美軍標(biāo)MIL-STD-750, Method 3471進(jìn)行考驗。 

先給MOSFET管的柵極加電壓，在柵極打開時，把一個恒電流，高阻抗的負(fù)載接到MOSFTE管的漏極。

當(dāng)漏極電流攀爬到用戶設(shè)定的數(shù)值時，被測器件的柵電荷可通過向漏極導(dǎo)通可編程恒流源放電（或P溝道器件，向源極導(dǎo)通）。通過監(jiān)視柵電壓和波形下各部分的面積便可計算出電荷量。

ITC57240 感性負(fù)載開關(guān)時間測試頭

ITC57240測試頭以美軍標(biāo)MIL-STD-750, Method 3477的定義，實行感性負(fù)載開關(guān)時間測試。

IGBT驅(qū)動器會在電感圈內(nèi)產(chǎn)生測試電流。當(dāng)斷開時，電流會通過寄生(齊納)二極管。在這瞬間，打開和關(guān)閉DUT器件開始對開關(guān)時間和開關(guān)能量進(jìn)行測試。當(dāng)它開關(guān)時，DUT器件能觀察到流入電感圈里的測試電流和橫跨齊納二極管的電壓，而不受續(xù)流二極管所產(chǎn)生的任何反向恢復(fù)因素所影響。

ITC57250 短路耐量測試頭

ITC57250以美軍標(biāo)MIL-STD-750, Method 3479的定義，實行短路耐抗時間測試。

在某些電路，如馬達(dá)驅(qū)動電路，半導(dǎo)體器件須有能力抗衡并頂住短時間的短路狀況。此測試就是用于驗證器件在短路情況下所能承受的耐抗時間。器件內(nèi)的電流是取決于器件的放大值(gain)和所使用的驅(qū)動脈寬。

ITC57260 結(jié)電容/柵極等效電阻測試頭 Rg, Ciss, Coss & Crss

此測試頭應(yīng)用頻率掃描和固定電感圈，找出所形成的RLC電路的共振點然后進(jìn)行對功率器件MOSFET的柵極電阻測量。它同時也測量器件的輸入電容(Ciss),輸出電容(Coss)和反向電容(Crss).

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