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詳細(xì)摘要： 手持式測(cè)厚儀Maxxi5系列X射線熒光鍍層測(cè)厚儀、鍍層膜厚儀技術(shù)參數(shù)牛津儀器Maxxi5鍍層膜厚儀是滿足功能性和測(cè)量精度的無(wú)損測(cè)厚儀，具有測(cè)量時(shí)間短，測(cè)量精度高...
產(chǎn)品型號(hào)：所在地：更新時(shí)間：2022-08-22 在線留言
詳細(xì)摘要： 一、X光檢測(cè)靈活解決方案Quadra™5系統(tǒng)擁有優(yōu)異的性能，可以滿足有亞微米級(jí)圖像分辨率的應(yīng)用，功率高達(dá)10W
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詳細(xì)摘要： 日立的DMA（動(dòng)態(tài)機(jī)械分析儀）用于應(yīng)用研究中的機(jī)械表征以及塑料、橡膠和薄膜材料中的研發(fā)
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詳細(xì)摘要： 日立的TMA（熱機(jī)械分析儀）用于評(píng)價(jià)樣品在寬溫度范圍內(nèi)的膨脹或收縮
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詳細(xì)摘要： 日立的STA（同步熱重分析儀）能在一臺(tái)裝置中同時(shí)進(jìn)行DSC和TGA（熱重分析儀）的測(cè)量
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詳細(xì)摘要： 快速可靠的X射線熒光鍍層厚度測(cè)量及材料分析，低成本、高效率
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詳細(xì)摘要： 二、FT160系列鍍層測(cè)厚儀特點(diǎn)：
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詳細(xì)摘要： 微區(qū)膜厚測(cè)量精度提高通過(guò)縮小與樣品間的距離等，致使在微小準(zhǔn)直器（0.1、0.2mm）下，也能夠大幅度提高膜厚測(cè)量的精度。
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詳細(xì)摘要： 應(yīng)用*的微電阻測(cè)試技術(shù)。系繩式探頭由四支探針組成，AB為正極CD為負(fù)極；測(cè)量時(shí)，電流由正極到負(fù)極會(huì)有微小的電阻，通過(guò)電阻值和厚度值的函數(shù)關(guān)系準(zhǔn)確可靠得出表面銅厚...
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詳細(xì)摘要： CMI900熒光X射線鍍層測(cè)厚儀，有著非破壞，非接觸，快速無(wú)損測(cè)量，多層合金測(cè)量，高生產(chǎn)力，高再現(xiàn)性等優(yōu)點(diǎn)的情況下進(jìn)行表面鍍層厚度的測(cè)量，從質(zhì)量管理到成本節(jié)約有...
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