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詳細(xì)摘要： 劃片機(jī)是一款設(shè)計(jì)用于劃割和分離微型元件，諸如GaAs和Si晶圓的設(shè)備。該設(shè)備可以按序劃割和分離晶圓等，并且保證元件整潔和完整無(wú)傷。

詳細(xì)摘要： 低溫等離子體源基于壓電變壓器直接放電，同時(shí)在元件的輸出端直接產(chǎn)生冷等離子，等離子通過(guò)電離空氣或氣體來(lái)形成。

詳細(xì)摘要： 過(guò)濾器測(cè)試系統(tǒng)包括氣溶膠發(fā)生器、氣溶膠粒徑譜儀、稀釋器、管路及分析軟件等，不同系統(tǒng)配置可用于測(cè)試濾料、小型過(guò)濾元件、高效過(guò)濾器、一般通風(fēng)過(guò)濾器、壓縮空氣過(guò)濾器、...

詳細(xì)摘要： 單點(diǎn)開(kāi)爾文探針是一種非接觸、非破壞性振動(dòng)電容裝置,用于測(cè)試導(dǎo)電材料的功函或半導(dǎo)體材料表面的表面電勢(shì)，表面功函。

詳細(xì)摘要： 油霧氣溶膠發(fā)生器簡(jiǎn)稱油霧發(fā)生器，從低濃度20mg/h至高濃度300g/h。油霧常見(jiàn)于研究和質(zhì)量檢驗(yàn)行業(yè)中。在特定的質(zhì)量檢驗(yàn)和顆粒測(cè)量設(shè)備的校正中，Palas公司...

詳細(xì)摘要： 飛行時(shí)間二次離子質(zhì)譜是一種非常靈敏的表面分析技術(shù)。可以廣泛應(yīng)用于物理，化學(xué)，微電子，生物，制藥，空間分析等工業(yè)和研究方面。TOF-SIMS可以提供表面，薄膜，界...

詳細(xì)摘要： 球磨測(cè)厚儀可快速測(cè)量硬涂層（鍍層）厚度的儀器，并控制單元自帶可編程的微處理器:速度，時(shí)間，球型，X，Y直徑。

詳細(xì)摘要： 涂層附著力測(cè)試儀器在使用洛氏硬度計(jì)完成常見(jiàn)的硬度測(cè)試后，用戶可以直觀評(píng)估樣品周邊裂縫。這個(gè)測(cè)試的樣品必須是在高速鋼或者硬度高于54HRC的基底上生長(zhǎng)的鍍層，鍍層...

詳細(xì)摘要： 摩擦學(xué)測(cè)試儀在市場(chǎng)上已有20年經(jīng)驗(yàn)和35年的摩擦學(xué)測(cè)量，目的是滿足摩擦學(xué)的需要。為了增加機(jī)械部件的性能和可靠性，針對(duì)客戶的需求，我們開(kāi)發(fā)了多種摩擦儀，可靠，易用...

詳細(xì)摘要： 界面力學(xué)分析儀可以用來(lái)直接測(cè)量表面（諸如：無(wú)機(jī)物，金屬，氧化物，聚合物，玻璃，生物分子界面等）間靜態(tài)力和動(dòng)態(tài)力，并在分子級(jí)領(lǐng)域內(nèi)研究界面和薄膜現(xiàn)象。模塊化的設(shè)計(jì)...