鍍層和涂層測(cè)厚儀

＊beta射線反向散射測(cè)量技術(shù)

＊依照標(biāo)準(zhǔn)ASTM B567，ISO/DOS 3543和DIN 50 983的準(zhǔn)則

＊應(yīng)用在測(cè)量許多經(jīng)典結(jié)構(gòu)的鍍層厚度，包括鎳上鍍金（Au/Ni）,環(huán)氧樹(shù)脂鍍銅（Cu/epoxy），光致抗蝕劑photoresist，銅上鍍銀（Ag/Cu），科瓦鐵鈷鎳合金上鍍錫Sn/kovar，鐵上鍍氮化鈦Ti-N/Fe，錫鉛合金Sn-Pb。

＊ Micro-Derm MP-900可以利用霍爾效應(yīng)技術(shù)測(cè)量銅上鍍鎳（Ni/Cu）的厚度。

＊探頭系統(tǒng)可以用于精確測(cè)量各種樣品表面，從小零件（連接器和端子）到大零件（印制線路板）。

l Micro-Derm BBS厚度標(biāo)準(zhǔn)片（4點(diǎn)設(shè)定）包括：純材料的底材，表面鍍層的純材料無(wú)限厚片和兩塊經(jīng)過(guò)NIST（美國(guó)聯(lián)邦標(biāo)準(zhǔn)技術(shù)委員會(huì)）認(rèn)證的標(biāo)準(zhǔn)厚度的薄片。

l 高質(zhì)量的制造技術(shù)確保盡可能精確的鍍層厚度測(cè)量。

l 設(shè)計(jì)體現(xiàn)了的易操作性和高效率。


融合了beta射線反向散射和霍爾效應(yīng)測(cè)量技術(shù)。避免了因?yàn)榇嬖趦煞N需要而購(gòu)買(mǎi)了兩種儀器的麻煩。

＊緊湊的設(shè)計(jì)

＊全面的測(cè)量能力

＊經(jīng)濟(jì)的X射線熒光分析儀器的替代品

＊提高生產(chǎn)量

＊45種標(biāo)準(zhǔn)檔案記憶允許用戶快速的進(jìn)行應(yīng)用轉(zhuǎn)換。

＊的NOVRAM 設(shè)計(jì)使得即使在備用電源斷電時(shí)仍可以保留有價(jià)值的校準(zhǔn)檔案。

＊標(biāo)準(zhǔn)校準(zhǔn)模式：4點(diǎn)，3點(diǎn)，2點(diǎn)，線性，多點(diǎn)和Sn-Pb.

＊特殊的多點(diǎn)Sn-Pb校準(zhǔn)模式可以對(duì)不同的Sn-Pb組分進(jìn)行自動(dòng)補(bǔ)償和修正。

＊新的3點(diǎn)BBS模式并不需要純材料鍍膜標(biāo)準(zhǔn)片。

＊多點(diǎn)校正模式應(yīng)用于霍爾效應(yīng)測(cè)量（測(cè)量鎳厚）。