電子芯片高低溫沖擊老化試驗(yàn)箱

簡(jiǎn)介：冷熱沖擊試驗(yàn)機(jī)，用來(lái)測(cè)試材料結(jié)構(gòu)或復(fù)合材料，在瞬間下經(jīng)溫及極低溫的連續(xù)環(huán)境下所能忍受的程度，藉以在zui短時(shí)間內(nèi)試驗(yàn)其熱脹冷縮所引起的化學(xué)變化或物理傷害。適合電子、電器、車輛、金屬、化學(xué)、建材、通訊組件、國(guó)防工業(yè)、航天工業(yè)、電子芯片IC、IT等物理性變化的測(cè)試之用。我司生產(chǎn)的冷熱沖擊試驗(yàn)機(jī)質(zhì)量好，價(jià)格優(yōu)，免費(fèi)保養(yǎng)，歡迎采購(gòu)。

設(shè)備規(guī)格系列齊全 –提籃式、三廂式、水平移動(dòng)三種沖擊模式可供用戶選擇，充分滿足不同用戶的各種要求；設(shè)備還可提供標(biāo)準(zhǔn)高低溫試驗(yàn)功能，實(shí)現(xiàn)了溫度沖擊和高低溫試驗(yàn)的共同兼容；高強(qiáng)度、高可靠性的結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)- 確保了設(shè)備的高可靠性；、

電子芯片高低溫老化試驗(yàn)箱

規(guī)范要求：

a.采用鋁片驗(yàn)證機(jī)臺(tái)負(fù)載能力（非塑料負(fù)載）
b.傳感器放置測(cè)試區(qū)而非風(fēng)道口符合實(shí)驗(yàn)有效性
a.進(jìn)行兩箱沖擊時(shí)測(cè)試區(qū)濕度符合規(guī)范要求
b.可擴(kuò)充待測(cè)品表面溫度控制駐留時(shí)間來(lái)縮短試驗(yàn)時(shí)間
c.可直接多項(xiàng)規(guī)范與試驗(yàn)條件

電子芯片高低溫沖擊老化試驗(yàn)箱

*設(shè)備特點(diǎn)
規(guī)格系列齊全 –提籃式、三廂式、水平移動(dòng)三種沖擊模式可供用戶選擇，充分滿足不同用戶的各種要求；
設(shè)備還可提供標(biāo)準(zhǔn)高低溫試驗(yàn)功能，實(shí)現(xiàn)了溫度沖擊和高低溫試驗(yàn)的共同兼容；
高強(qiáng)度、高可靠性的結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)- 確保了設(shè)備的高可靠性；
工作室材料為SUS304不銹鋼 - 抗腐蝕、冷熱疲勞功能強(qiáng)，使用壽命長(zhǎng)；
高密度聚氨酯發(fā)泡絕熱材料- 確保將熱量散失減到zui小；
表面噴塑處理- 保證設(shè)備的持久防腐功能和外觀壽命；
高強(qiáng)度耐溫硅橡膠密封條 – 確保了設(shè)備大門的高密封性；
多種可選功能（測(cè)試孔、記錄儀、測(cè)試電纜等）保證了用戶多種功能和測(cè)試的需要；
大面積電熱防霜觀察窗、內(nèi)藏式照明 –可以提供良好的觀察效果；
環(huán)保型制冷劑 –確保設(shè)備更加符合您的環(huán)境保護(hù)要求；

*可根據(jù)用戶要求定制尺寸/定制使用指標(biāo)/定制各種選配功能

氣壓保護(hù)開關(guān)動(dòng)作試驗(yàn)

維護(hù)方法：

1打開機(jī)器后面的總電源開關(guān)及面板上的電源開關(guān)。

2使用十字螺絲刀順時(shí)針旋轉(zhuǎn)氣壓開關(guān)頂部右側(cè)的螺絲，將氣壓保護(hù)值的調(diào)節(jié)值=總氣壓閥的指示值。

3若蜂鳴器響起及主控制器畫面上出現(xiàn)對(duì)應(yīng)的報(bào)警畫面則為正常。

4重新設(shè)置氣壓保護(hù)器的指示值，操作完成。